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2017 Fiscal Year Annual Research Report

the developing of uniform test assembly for reducing item exposure and increasing the number of tests

Research Project

Project/Area Number 15K16260
Research InstitutionTokyo University of Science

Principal Investigator

石井 隆稔  東京理科大学, 工学部情報工学科, 助教 (40741591)

Project Period (FY) 2015-04-01 – 2018-03-31
Keywordseテスティング / 整数計画問題 / 教育工学 / アルゴリズム
Outline of Annual Research Achievements

本研究は、今後普及が見込まれるeテスティングシステムのための技術開発を目的とし、具体的には、等質なテストを計算機により自動的に多数構成する技術の研究開発を行ってきた。
これにより、経年で行われる資格試験などで、例えば、年度間の有利不利が解消されたり、問題流出等のリスクの低減などが可能となり、より信頼性高いテスティングが可能となる。

本年度は、研究代表者である石井が体調を崩してしまい、予定通り研究、予算の執行などができなかった。ただし、去年度までの成果で論文賞をいただいたのでそれを報告する

URL: 

Published: 2018-12-17  

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