2005 Fiscal Year Annual Research Report
高輝度X線時分割測定による液晶相構造の動的挙動評価
| Project/Area Number |
16350070
|
|---|
| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
|---|
Principal Investigator |
高西 陽一 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助手 (80251619)
|
|---|
| Keywords | 液晶 / X線 / 構造解析 / 動的挙動 / キラリティ |
|---|
| Research Abstract |
本研究の目的は(1)これまでに構築したX線システムにコンフォーカルミラーを導入してビームの極小化、高精度化を計り、現システムで実現の難しかった層内の秩序測定を可能にし、新規液晶相の構造を決定すること、(2)更に高速CCDとイメージインテンシファイア(以下I.Iと略す)を導入し、放射光でしか難しかった数ミリ秒オーダーの時分割X線測定を市販装置で可能とし、スメクティック液晶の動的挙動を評価することである。
初年度はコンフォーカルミラーを導入してビームの極小化、高輝度化を計った。本年度はI.IとCCDを導入し、動的挙動の測定を可能にするシステムを構築を目指したが、納入に時間がかかってしまい、ようやく最近になって測定が可能となった。そこで昨年度までに構築したシステムを用いてバナナ型液晶とアキラルな棒状液晶5CBの混合物でB4相が非常に広い混合比範囲で、非常に広い温度範囲を示すことを見いだし、その構造がは混合比を変えても変化しないことを見出した。この結果はJ.Mater.Chem.に投稿した。また、バナナ型液晶のB1相の構造についても従来の構造とは異なる結果を得、論文投稿している。
来年度は納入されたI.IとCCD、動的挙動の測定を可能にするシステムを構築し、リラクサーとよばれる動的挙動を示す液晶と、光応答する液晶相の層構造ダイナミクスに関して検討する。
|
