2004 Fiscal Year Annual Research Report
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16500303
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| Research Institution | Sophia University |
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Principal Investigator |
藤井 麻美子 上智大学, 理工学部, 講師 (20173396)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
中山 淑 上智大学, 理工学部, 教授 (00053653)
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| Keywords | 2次元後方散乱偏光計測 / 散乱パターン / 後方散乱 / モンテカルロシミュレーション / 細胞内構造 |
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| Research Abstract |
可視光から近赤外程度の波長では、μm程度の細胞・細胞内構造の大きさの散乱体に対し、後方散乱はその光学特性のわずかな違いで大きくそのパターン(角度依存性)を変え、偏光方向による違いも大きく示すことが知られている。後方散乱測定では、前方散乱測定のように組織を切り出す必要がなく、測定対称に対する自由度が高い。それに加えて偏光による違いも敏感に示すため、後方散乱を波長を変えて分光的に計測することによりin vivoで細胞内外構造に関する様々な情報が得られると考えられる。本研究は、生体の前方散乱ではなく後方散乱に注目し、2次元イメージセンサを用いて偏光の強度を2次元平面画像として計測する。本年度は、まずその手始めとして既存の冷却CCDカメラを用いて実験装置をセットアップしたが、広範囲の散乱角度を計測するためにレンズ系を通すと入射ビームの反射やレンズ表面での反射特性の入射角度依存性などの煩雑な問題が生じることが分かった。本研究の可能性およびこの時点までで検討された問題点などについては、2004年の5月に開催された第43回日本エム・イー学会大会にて発表した。
引き続き上記の問題を解決するため、本年度研究費補助金によって広面積の2次元イメージセンサ(CMOSカメラ)を購入しレンズなしの構成の実験システムに変えた。ポリスチレン粒子を水に分散させた試料での実験を行い、散乱パターンが明瞭に観測できることを確認した。平行して実験にあわせたシミュレーションを行った。この成果は2004年の12月に台北で行われた"The Second Asian and Pacific Rim Symposium on Biophotonics"にて発表した。
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