2005 Fiscal Year Annual Research Report
不正行為に強い耐性を持つ電子透かし情報符号化法に関する研究
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16700021
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| Research Institution | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
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Principal Investigator |
渡辺 創 独立行政法人産業技術総合研究所, 情報セキュリティ研究センター, 副研究センター長 (80263432)
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| Keywords | 電子透かし / 結託攻撃 / 著作権保護 / 不正コピー / 符号 |
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| Research Abstract |
現在、電子データの不正コピー対策としてデータ以外の別の情報を埋め込む「電子透かし技術」が盛んに研究されている。電子透かし技術を不正コピー対処のために用いる場合、データ送信時にデータ受信者情報を透かし情報として埋め込む。そして不正コピーが流出し、それがそのデータ送信者に発見されたとき、埋め込まれている透かし情報を読み取ることで、流出元が特定できる。このとき単純なビット列等を埋め込んでしまった場合、不正者が複数結託することで埋め込んだ透かし情報を破壊される危険性がある。本研究では上述のような結託による改変、およびさらなるランダムな改変に対しても耐性を持つ電子透かし情報符号化法に関する研究を行う。今年度は、昨年度の安全性評価の結果を踏まえ、自身の提案法であるRandomized c-secure CRT Codeを含む、これまでに提案されてきた符号化法の安全性をより詳細に比較した。この比較は、同一レベルの安全性を実現するために必要な符号語長を計算することにより行った。その結果、個々の提案における安全性、符号語長評価の見積りでは、自身が提案したRandomized c-secure CRT Codeの効率(安全性と符号語長のバランス)が良いことがより明確なものとなった。さらにこれまでの研究では、自身の安全性、符号語長の評価を含めて、その見積りが非常に漸近的であり、実際にこの符号を用いる際にはあまり役に立たない精度のものであることも明らかになった。
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Research Products
(1 results)
