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2006 Fiscal Year Annual Research Report

レーザー誘起磁気円二色性光電子放出を利用した磁気走査トンネル顕微鏡の開発

Research Project

Project/Area Number 16710093
Research InstitutionInstitute for Molecular Science

Principal Investigator

中川 剛志  分子科学研究所, 分子構造研究系, 助手 (80353431)

Keywords走査トンネル顕微鏡 / 光電子放出 / 表面磁性 / ナノ磁性
Research Abstract

我々はレーザーによる光電子放出とトンネル現象を利用した新しい走査トンネル顕微鏡を考案した。この原理ではレーザーの偏光と表面スピンの方向との間に明確な関係が成り立つことが予想され、スピンの方向を決定できる。また、原子分解能も期待できると考えている。以上のような特徴を持った測定手法の開発を進めている。
平成18年度は光電子放出の磁気円二色性(MCD)の顕微鏡への適用を試みた。走査トンネル顕微鏡への適用が課題の主目的であるが、まず空間分解能が劣る光電子顕微鏡にて磁区観測実験を行った。光電子顕微鏡は空間分解能50nm程度の顕微鏡であり、光学顕微鏡と同様で走査部がないため高速測定ができる。実験はNi10層をCu(001)蒸着した試料にて行った。光源はHeCdレーザー(325nm,3.81eV)を使用した。レーザーのエネルギーと試料の仕事関数をほぼ一致させるためにアルカリ金属であるCsを蒸着して、仕事関数を低下させ、制御した。測定の結果、光電子顕微鏡により空間分解能〜100nm程度で磁区が明瞭に観測することがわかった。
MCD強度が最も強くなる条件(仕事関数と光のエネルギーが一致したとき)はトンネル光電子を測定するときの条件と同じであり、STMにより磁化測定ができる望みを大いに持たせるものである。しかし、測定は走査トンネル顕微鏡の安定性が重要な要因と考えられ、今後さらに実験環境を整備し、走査トンネル顕微鏡による磁区観測実現へ向け研究を進めて行く。

  • Research Products

    (5 results)

All 2007 2006

All Journal Article (4 results) Patent(Industrial Property Rights) (1 results)

  • [Journal Article] Measurements of threshold photoemission magnetic dichroism using ultraviolet lasers and a photoelastic modulator2007

    • Author(s)
      T.Nakagawa, T.Yokoyama, M.Hosaka, M.Katoh
    • Journal Title

      Review of Scientific Instruments 78

      Pages: 023907

  • [Journal Article] Magnetic Circular Dichroism near the Fermi Level2006

    • Author(s)
      T.Nakagawa, T.Yokoyama
    • Journal Title

      Physical Review Letters 96

      Pages: 237402

  • [Journal Article] Adatom induced spin reorientation transitions and spin canting in Co films on stepped Cu(001) surface2006

    • Author(s)
      T.Nakagawa, H.Watanabe, T.Yokoyama
    • Journal Title

      Fhysical Review B 74

      Pages: 134422

  • [Journal Article] Effect of surface chemisorption on the spin reorientation transition in magnetic ultrathin Fe film on. Ag(001)2006

    • Author(s)
      X.Ma, T.Nakagawa, T.Yokoyama
    • Journal Title

      Surface Science 600

      Pages: 4605

  • [Patent(Industrial Property Rights)] 紫外磁気円二色性測定方法、磁気円二色性光電子放出顕微鏡、及び磁気円二色性光電子放出顕微鏡システム2006

    • Inventor(s)
      中川剛志, 横山利彦
    • Industrial Property Rights Holder
      中川剛志, 横山利彦, 自然科学研究機構
    • Industrial Property Number
      特許権、特願2006-2417Z4号
    • Filing Date
      2006-09-06

URL: 

Published: 2008-05-08   Modified: 2016-04-21  

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