2004 Fiscal Year Annual Research Report
液晶パネルにおけるパラメータの高精細・高速測定法の開発に関する研究
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16760264
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| Research Institution | Akita University |
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Principal Investigator |
河村 希典 秋田大学, 工学資源学部, 助手 (90312694)
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| Keywords | 液晶ディスプレイ / セルパラメータ / セル厚 / ねじれ角 / プレティルト角 / 高精細測定 / 高速測定 |
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| Research Abstract |
平成16年度における研究課題"液晶パネルにおけるパラメータの高精細・高速測定法の開発に関する研究"に関して下記のように研究を実施した。
(1)液晶ディスプレイのセルパラメータ(セル厚・ねじれ角・プレティルト角)の高精度測定を目指し、申請者が研究を行ってきたストークスパラメータを用いた測定法を更に発展させ、Extended Jones行列の適用を行った。この解析手法と今年度購入した高分解能冷却型CCDカメラを用いることで大面積液晶ディスプレイパネルにおけるセルパラメータの高精度測定システムへの適用と解析アルゴリズムを行った。
(2)偏光ビームスプリッタと波長の異なる2つの発光ダイオードを用いた簡便な反射型液晶セルのセルパラメータの測定システムを構成し、セルパラメータの測定を行った。その結果、偏光ビームスプリッタを用いることで、偏光板を回転する必要がなく、そのため高速にセルパラメータの測定を行うことが可能となった。また、2波長の発光ダイオードを用いて測定することにより、反射型液晶セルのセル厚及びねじれ角の同時測定も行うことができた。
(3)上述した(2)の内容とは別に、機械的な光学素子の回転系を必要としない反射型液晶セルのセルパラメータの測定法を考案した。同心円ラビング配向処理を施した基板と一様に配向処理を行った基板を組み合わせ、その後液晶材料を封入した液晶偏光変換素子を用いて、複数波長及び位相板の挿入における反射型液晶セルのセルパラメータの測定を行った。その結果、液晶層の厚みのみならずねじれ角の実時間上での高速・同時測定が可能となった。
以上の測定方法並びに装置の開発について第1次評価を行い、解析結果の実験室的な検証を行った。また、以上のことは国内外の国際会議等で発表を行った。
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