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2005 Fiscal Year Annual Research Report

液晶パネルにおけるパラメータの高精細・高速測定法の開発に関する研究

Research Project

Project/Area Number 16760264
Research InstitutionAkita University

Principal Investigator

河村 希典  秋田大学, 工学資源学部, 助手 (90312694)

Keywords液晶ディスプレイ / 垂直配向液晶セル / セルパラメータ / セル厚 / ねじれ角 / プレティルト角 / 高精細測定
Research Abstract

平成17年度において,ストークスパラメータ法を拡張することで,これまで測定が困難であった垂直配向液晶セルにおけるセルパラメータの2次元分布測定に適用することを目的として,本研究で構成したセルパラメータ測定法により実験を行った。以下に本研究で得られた結果について述べる。
(1)配向状態の異なる垂直配向液晶セルを作製し,546,589,633,852nmの波長においてそれぞれ入射角を±10°,±15°,±20°とした場合のセル厚,プレティルト角をそれぞれ算出した。セル厚を求める場合については標準的な測定法であるクリスタルローテーション法により求めたプレティルト角の値を用いて算出した。また,プレティルト角を求める場合には,光干渉法により求めた空セル時のセル厚を既値として算出した。本測定システムを用いて求めたセルパラメータとクリスタルローテーション法及び光干渉法により求めたセルパラメータを比較すると,それぞれほぼ一致する値が得られた。
(2)異なる複数波長(λ=546,589,633nm)のストークスパラメータを用いてセル厚及びプレティルト角の測定を行った結果,ばらつきが小さくなる傾向が見られ,精度の高い測定を行うことができた。
(3)本研究における手法を適用した測定により求めたストークスパラメータと計算により求めた値とのフィッティングから,セル厚及びプレティルト角の同時測定を行った。異なる複数の波長のストークスパラメータを用いて測定を行った結果,セル厚及びプレティルト角をそれぞれ測定した結果と比較するとばらつきがみられたが,クリスタルローテーション法により求めたプレティルト角及び光干渉法により求めたセル厚の値とほぼ同様の結果が得られた。
以上の結果から,ストークスパラメータ法を用いて垂直配向液晶セルの2次元分布のセルパラメータ測定を行うことができた。また,MVA液晶セルにおける突起物等によるセル厚及びプレティルト角の影響を考慮することで,これらの液晶セルにおけるセルパラメータ測定も行うことができた。

  • Research Products

    (3 results)

All 2005

All Journal Article (3 results)

  • [Journal Article] 垂直配向液晶セルにおけるセルパラメータの測定2005

    • Author(s)
      佐藤一馬, 河村希典, 佐藤進
    • Journal Title

      2005年日本液晶学界討論会予稿集 PC17

      Pages: 391-392

  • [Journal Article] 垂直配向液晶セルにおけるセル厚及びプレティルト角の同時測定2005

    • Author(s)
      佐藤一馬, 河村希典, 佐藤進
    • Journal Title

      応用物理学会東北支部第60回学術講演会講演予稿集 9pB7

      Pages: 218-219

  • [Journal Article] Cell parameter measurements of vertical alignment liquid crystal cells by using Stokes parameters2005

    • Author(s)
      Marenori Kawamura, Kazuma Sato, Susumu Sato
    • Journal Title

      Proceedings of the 12th International Display Workshops in conjunction with Asia Display 2005 LCT6-4

      Pages: 91-94

URL: 

Published: 2007-04-02   Modified: 2016-04-21  

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