2016 Fiscal Year Annual Research Report
公共空間におけるスマートデバイスに対する物理攻撃への対策スイートの研究開発
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16H02831
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| Research Institution | Tohoku Gakuin University |
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Principal Investigator |
林 優一 東北学院大学, 工学部, 准教授 (60551918)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
本間 尚文 東北大学, 電気通信研究所, 教授 (00343062)
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| Project Period (FY) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| Keywords | 電磁情報セキュリティ / サイドチャネル攻撃 / 情報システム / ディスプレイ / スマートデバイス / 電磁環境 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
今年度は、スマートデバイスからの電磁波を通じた情報漏えいを評価する技術開発を行った。
開発を行った評価手法では、ディスプレイ描画に関わるデータはその処理および伝送において周期性を有し、画面描画に関わるICもしくは伝送路から漏えいするという仮定を用いることで、画面の再構築を行うことなく情報を漏えいさせる周波数（漏えいチャネル）を高速にスキャンし、特定することを可能とした。
また、上記の手法を種々のスマートデバイスに適用すると共に、漏えいチャネルの誤検知率を下げるための評価技術の高精度化についても検討を行った。さらに、情報漏えいの有無を高精度に短時間に判定可能な評価技術の開発も行った。
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
1: Research has progressed more than it was originally planned.
Reason
スマートデバイスからの漏えい評価技術の開発においては、これまで開発した漏えい電磁波評価環境を拡張し、多様なデバイスからの漏えい評価を可能とするシステムを構築し、画面描画に応じて生ずる漏えい電磁波は振幅変調され周期を持つことを利用し、「複雑な画面再構築処理を必要としない信号復調」と「モデルを用いた周期の自動検出」を行うことで漏えいの有無を高速に判定できる評価技術を提案した。さらに、開発した技術はハードウェアトロージャンの検出にも応用できる可能性があり、評価技術の適用範囲を大幅に拡張している。
また、本手法の有効性は当該分野において最も権威ある論文誌（IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility）に採録されると共に、周辺分野からもその成果に注目が集まり、2度の招待講演を受けると共に、同分野の専門雑誌においても招待記事が掲載されている。
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| Strategy for Future Research Activity |
平成29年度は評価技術に基づいたスマートデバイスからの漏えいメカニズム解明を行う。
漏えい源となる集積回路 (IC: Integrated Circuit) がデータに応じて処理を行う際、情報を含む信号はその時間変化に対応した周波数成分を持つ。そして、そのうちの高周波数成分が機器内部でアンテナとして振る舞う部位まで電磁結合を通じて伝搬し、アンテナの周波数特性に応じて空間へ放出すると考えられる。上述したアンテナとして振る舞う部位としては、プリント基板上の配線パターンや、機器筐体を構成する導体、機器に接続された線路などが挙げられる。これらが非意図的なアンテナとして振る舞うことで、放射及び伝導といった電磁放射が発生する。スマートデバイスにおいてはどのような部位が放射に寄与するのかを上述した漏えい源、アンテナ、それらを繋ぐカップリングパスに分解し、前年度に開発を行った評価システム及びこれまでに開発した高精細電磁波可視化技術を用いて漏えい電磁波を時系列で可視化することにより、漏えいメカニズムを解明する。
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