2019 Fiscal Year Annual Research Report
光ファイバ用いたリアルタイム大気腐食評価システムの開発
Project/Area Number |
16H03132
|
Research Institution | Yokohama National University |
Principal Investigator |
笠井 尚哉 横浜国立大学, 大学院環境情報研究院, 准教授 (20361868)
|
Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
岡崎 慎司 横浜国立大学, 大学院工学研究院, 教授 (50293171)
|
Project Period (FY) |
2016-04-01 – 2020-03-31
|
Keywords | 非破壊評価 / モニタリング技術 / 大気腐食 / 社会インフラ |
Outline of Annual Research Achievements |
ひずみ法によるリアルタイム大気腐食モニタリングシステムの開発に関する今年度の研究実績は、昨年度に引き続き、本モニタリングシステムを実際の現場に適用する際に大きな誤差要因となる腐食生成物の影響を取り除くセンサの配置構成を、有限要素法による解析結果と現在までに得られた実験結果を基に検討し、新たなひずみ測定素子の配置構成を見出すことができた。 この配置構成になるようにひずみゲージと光ファイバグレーティング素子を試験片に設置するともに、それぞれの素子用治具の改良と測定システムの構築を行った。この構築した測定システムを用いて、温度変化に対する実験を行った。この結果、ひずみゲージと光ファイバグレーティング素子共にアクティブ素子とダミー素子で測定された結果は温度変化に対応して変化しており、これらの差を取ることで、温度変化によって生じる誤差を精度良く除去できることがわかった。次に、試験片表面に塩水を噴霧し、腐食生成物の発生を促しながら測定を実施したところ、ひずみゲージと光ファイバグレーティング素子のどちらの手法もアクティブ素子とダミー素子の信号を使用し解析・検討しても腐食生成物の影響が残ることがが分かった。 さらに、本年度は新たに試験片表面に全面腐食を生じやすくさせるために必要な表面処理方法についても検討した。事前に塩酸で表面処理を行うことで、本研究では安定的に試験片表面全面に腐食を発生させることができた。
|
Research Progress Status |
令和元年度が最終年度であるため、記入しない。
|
Strategy for Future Research Activity |
令和元年度が最終年度であるため、記入しない。
|