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2019 Fiscal Year Annual Research Report

単一界面欠陥のチャージポンピング過程を用いた2電子スピン相関の室温観測

Research Project

Project/Area Number 16H06087
Research InstitutionShizuoka University

Principal Investigator

堀 匡寛  静岡大学, 電子工学研究所, 講師 (50643269)

Project Period (FY) 2016-04-01 – 2020-03-31
Keywordsチャージポンピング法 / 電子スピン共鳴法 / シリコン / MOSFET / EDMR法 / 界面欠陥 / 再結合過程 / ドーパント
Outline of Annual Research Achievements

ゲートにパルス電圧を印加することで、電子正孔再結合を誘導する「チャージポンピング法」は、MOSトランジスタの界面欠陥を評価するために広く用いられている。しかしながら、同手法で検出される界面欠陥の種類(結合の構造)は、磁気共鳴法が必要となるために、これまで明らかではなかった。また、チャージポンピングの詳細なプロセスについても十分に理解されていなかった。
これらの課題を解決するために、これまで本研究課題では、チャージポンピング法と電子スピン共鳴法とを組み合わせたチャージポンピングEDMR(Electrically detected magnetic resonance)法を立ち上げ、シリコン/シリコン酸化膜界面の主要な欠陥(PbセンターとE'センター)がチャージポンピング過程に寄与していることを明らかにしてきた。令和元年度は、低温下でのチャージポンピングEDMR測定を継続して行い、以下の成果を得た。
1. チャージポンピング過程におけるスピンに依存した再結合モデルの提案。EDMR信号の強度(ピーク高さ)と測定温度の依存性を取得し、詳細に解析したところ、2つの電子スピンがペアを形成するというモデルを用いることで、チャージポンピングの再結合過程を説明できることが明らかとなった。これらの成果を学術論文にまとめ、報告した。
2. MOSトランジスタ中のヒ素(As)原子の検出。トランジスタのチャネル端に電気的な手法を用いて局所的に界面欠陥を生成させ、このトランジスタに対してチャージポンピングEDMRを実施した。この結果、ソース・ドレイン領域のヒ素原子に由来する信号が検出された。ピーク強度の詳細解析から、ヒ素原子の電子がその近傍の(チャネル端で生成した)界面欠陥の電子とスピンペアを形成し、低温下のチャージポンピング過程に寄与していると結論づけた。

Research Progress Status

令和元年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

令和元年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (14 results)

All 2020 2019 Other

All Journal Article (3 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results,  Peer Reviewed: 3 results) Presentation (8 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results,  Invited: 3 results) Remarks (3 results)

  • [Journal Article] Coulomb-blockade transport in selectively-doped Si nano-transistors2019

    • Author(s)
      Afiff Adnan、Samanta Arup、Udhiarto Arief、Sudibyo Harry、Hori Masahiro、Ono Yukinori、Tabe Michiharu、Moraru Daniel
    • Journal Title

      Applied Physics Express

      Volume: 12 Pages: 085004_1-5

    • DOI

      https://doi.org/10.7567/1882-0786/ab2cd7

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Charge Pumping Under Spin Resonance in Si(100) Metal-Oxide-Semiconductor Transistors2019

    • Author(s)
      Hori Masahiro、Ono Yukinori
    • Journal Title

      Physical Review Applied

      Volume: 11 Pages: 064064_1-12

    • DOI

      https://doi.org/10.1103/PhysRevApplied.11.064064

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Single-charge band-to-band tunneling via multiple-dopant clusters in nanoscale Si Esaki diodes2019

    • Author(s)
      Prabhudesai Gaurang、Muruganathan Manoharan、Anh Le The、Mizuta Hiroshi、Hori Masahiro、Ono Yukinori、Tabe Michiharu、Moraru Daniel
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 114 Pages: 243502_1-5

    • DOI

      https://doi.org/10.1063/1.5100342

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Presentation] ナノスケール・シリコンにおける電子・電子散乱を利用したエレクトロン・アスピレーター2020

    • Author(s)
      小野行徳, ヒンマ フィルダウス, 渡邉時暢, 堀匡寛, ダニエル モラル, 高橋 庸夫, 藤原聡
    • Organizer
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • Invited
  • [Presentation] シリコンMOSトランジスタにおける電子スピン共鳴下のチャージポンピング2020

    • Author(s)
      堀匡寛, 小野行徳
    • Organizer
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • Invited
  • [Presentation] チャージポンピング法による単一Pb1センターの検出2020

    • Author(s)
      土屋敏章, 堀匡寛, 小野行徳
    • Organizer
      第67回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] Charge Pumping in Silicon MOSFETs-Towards Ultimate Control of Charges and Spins-2019

    • Author(s)
      M. Hori, T. Tsuchiya, Y. Ono
    • Organizer
      8th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VIII)
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Si electron nano-aspirator en-route for energy-efficient hydro-electronic devices2019

    • Author(s)
      M. Rasanoelina, H. Firdaus, T. Watanabe, M. Hori, D. Moraru, Y. Takahashi, A. Fujiwara, Y. Ono
    • Organizer
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] シリコンMOS界面のチャージポンピングEDMRにおける信号強度の温度依存性2019

    • Author(s)
      堀匡寛, 土屋敏章, 小野行徳
    • Organizer
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] 単一MOS 界面トラップの2 電子準位の相関I -準位密度分布-2019

    • Author(s)
      土屋敏章, 堀匡寛, 小野行徳
    • Organizer
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] 単一MOS 界面トラップの2 電子準位の相関 II -電子捕獲過程-2019

    • Author(s)
      土屋敏章, 堀匡寛, 小野行徳
    • Organizer
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
  • [Remarks] 研究室ホームページ

    • URL

      https://wwp.shizuoka.ac.jp/nano/

  • [Remarks] 静岡大学プレスリリース「トランジスタ界面欠陥の高精度観測技術を確立」2019年06月24日

    • URL

      https://www.shizuoka.ac.jp/pressrelease/pdf/2019/PressRelease_11.pdf

  • [Remarks] OPTRONICS ONLINE「静大,トランジスタ界面欠陥を高精度で観測」2019年06月25日

    • URL

      http://www.optronics-media.com/news/20190625/58192/

URL: 

Published: 2021-01-27  

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