2019 Fiscal Year Annual Research Report
Research on Test and Diagnosis for Delay Faults by Accurate Delay Fault Simulator
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16K00075
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| Research Institution | Ehime University |
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Principal Investigator |
樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (40304654)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
高橋 寛 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (80226878)
王 森レイ 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 (90735581)
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| Project Period (FY) |
2016-04-01 – 2020-03-31
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| Keywords | LSIテスト / 故障診断 / 遅延故障 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本研究における研究の成果は，以下の3点である．
１．ゲート信号線とクロック信号線のブリッジ故障に対する故障診断法を開発した．この研究では，ゲート信号線の信号変化タイミングが，クロック信号に影響を与えるような現象をブリッジ故障モデルとして表現し，このような故障位置を推定する手法を開発した．具体的には，信号変化のあったゲート信号線から後方追跡を行い，より正確に信号変化タイミングを計算する手法を実現した．
２．フィールド故障診断においてテストパターン数を削減する手法を開発した．この研究では，システム稼働中に実施するフィールド故障診断において，診断時間短縮の目的で，テストパターン数を削減する手法を開発した．具体的には，各テストパターンに対する区別不可能数に基づくテストパターン選択や，残った故障ペアを区別する最小テストパターン選択法を導入することで，テストパターン数削減を実現した．
３．遅延変動を考慮したマルチサイクルテスト環境での故障診断手法を開発した．この研究では，システム動作時のクロック信号を連続して複数回印加するような，マルチサイクルテスト環境を想定し，単一縮退故障と2重縮退故障を対象にした，故障診断法を開発した．具体的には，信号伝搬遅延が経路上で大きく変化するようなテストパターンをできるだけ用いずに，故障診断を行う手法を導入した．また，フリップフロップに取り込む値として，未知の値Xを導入しシミュレーションすることで，遅延変動によりシミュレーション値と実際の値が異なるような状況を回避することで，高い故障診断性能を実現した．
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