2018 Fiscal Year Annual Research Report
Elucidation of the overglazing technique by analyzed organic material contained in overglaze color layer of ceramics
| Project/Area Number |
16K01188
|
|---|
| Research Institution | Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute |
|---|
Principal Investigator |
樋口 智寛 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター, 開発本部開発第二部表面・化学技術グループ, 副主任研究員 (50463063)
|
|---|
| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
二宮 修治 東京学芸大学, 教育学部, 名誉教授 (30107718)
新免 歳靖 東京学芸大学, 教育学部, 講師 (40759156)
樋口 和美 (水本和美) 東京藝術大学, 大学院美術研究科, 講師 (80610295)
|
|---|
| Project Period (FY) |
2016-04-01 – 2019-03-31
|
| Keywords | 陶磁器 / 有機物 / 製作技法 / TOF-SIMS / 赤外放射光 |
|---|
| Outline of Annual Research Achievements |
焼成後の陶磁器上絵層における残存有機物成分の分析を通し、新たな方向からの製作技法の解明に向けた試みとして研究を遂行した。上絵付に用いられる糊等の有機物については、考古資料が乏しく、技術伝承の経緯等について不明な事象が多く、本研究はこれらの解明の一助となるものである。
分析手法として、飛行時間型二次イオン質量分析（TOF-SIMS）、および上絵付け焼成中における糊材の経時変化を捉えるため赤外放射光を利用した赤外分光分析（synchrotron radiation FT-IR）によるその場観察を中心に活用し、研究を遂行した。
synchrotron radiation FT-IR分析：糊として膠を用いて絵付けを行った試料の場合、未焼成から240℃までの温度範囲において、吸収強度の大きな変化は見られず、焼成が300℃まで達すると、膠由来の吸収は消失した。一方、ふのりを用いた試料の場合、200℃において、ふのり由来の吸収は消失した。
TOF-SIMS分析：ふのりを用いた試料の場合、膠を用いた試料と比較し、有機物が残存しやすい傾向であることが分った。上絵付けに用いた絵具の無機成分に注目すると、用いた糊の種類により、フラグメントイオンの出現パターンに差異が確認された。また、上絵との界面付近の釉薬側の無機成分にも、差異が確認された。これら現象から、例えば結晶系や化学結合状態等、無機成分の存在形態の化学変化へ、糊が関与することが示唆される。
以上から、上絵付に糊としてふのりを用いら場合、膠を用いた試料と比較して、低温において糊成分が変化、さらに絵具等の成分との化学反応により、例えば金属有機物等の化合物が生成しやすいとも示唆される。今後、多様な上絵具を用いた事象の分析を試み、焼成による化学反応等を解明し、これら成果を文化財研究、さらに陶磁器製作へ活用していくことが望まれる。
|
