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2016 Fiscal Year Research-status Report

触媒金属蒸気を利用したh-BN上へのグラフェンのCVD直接成長

Research Project

Project/Area Number 16K14446
Research InstitutionThe University of Tokyo

Principal Investigator

長汐 晃輔  東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 准教授 (20373441)

Project Period (FY) 2016-04-01 – 2018-03-31
KeywordsCVD / 直接成長 / グラフェン / h-BN
Outline of Annual Research Achievements

次世代半導体チャネル材料として期待されるグラフェンデバイスの観点からは,原子レベルで平坦な絶縁性基板h-BN上でのみグラフェンの期待されるデバイス特性が報告されている.h-BN上へのグラフェン直接成長が期待されるが,h-BNにはグラフェン成長に必要な触媒作用は存在しないためh-BN上への成長は困難である.そこで,触媒機能としてCu蒸気を外部から導入し,h-BN上へのグラフェン成長及びデバイス動作が目的である.今年度は,3ゾーンのCVD炉を立ち上げ,炉内の温度分布の制御を行った.また,並行して,様々な2次元基板上にCVD成長させるために2次元結晶のヘテロ構造作成手法を検討した.レンズ形状のPDMS/PMMAを用いて,バルクh-BN結晶上にグラフェン転写を試みた.PMMAはガラス転移温度が55度程度であり,100度以上に加熱すると粘性が低下し密着性が向上する.この温度域でh-BNにPMMAを密着させるとピックアップが可能となることが分かった.しかしながら,高温でピックアップすると50%程度の確率でh-BNが割れることを確認した.そのため,高温で密着させた後,ガラス転移温度以下まで冷却し,PMMAをガ硬化させピックアップすることで割れることなくピックアップすることができることがわかった.また2次元結晶で2次元結晶をピックアップすることは非常に容易であり,ヘテロ構造は容易に形成可能である.以上のように今年度は,CVD用の炉の立ち上げおよびヘテロ構造作成技術を構築することができた.

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

予定していた装置の立ち上げ等はおおむね順調にすすんだため.

Strategy for Future Research Activity

触媒金属蒸気を利用したh-BN上グラフェンの直接成長に対して,まずCu箔で実験を行う.Cu箔内に試料を設置可能なスペースを確保するため,まず円筒状を試す.Cu箔から離れた方がグラフェンの成長が安定するようであれば,Cu箔はハニカム等の形状も検討しCH4の分解能を向上させる.Cu箔は表面に酸化膜を有するので管状炉内でH2ガスの還元雰囲気で1000°Cで保持し,表面を清浄化させる等の検討が必要と予想される.また,他の触媒金属としては以下のように考えている.成長基板に触媒性を持たせる既存のCVD成長手法においては,グラフェンとの格子整合性や,分解したカーボン原子に対する固溶度の大きさ等を考慮して触媒金属を選択してきた.それ故,固溶限の小さいCuでは表面反応律速のため単層で成長が止まるが,固溶度が大きいNiではCを固溶し,冷却中に析出成長するため通常多層になる.蒸気で用いることから,触媒性の強い金属種が候補となるが,管状炉の最大温度が1100度程度であることを考えると,遷移金属ではなく触媒性のあるGeを検討する.

  • Research Products

    (14 results)

All 2017 2016 Other

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results,  Acknowledgement Compliant: 3 results) Presentation (8 results) (of which Int'l Joint Research: 7 results,  Invited: 8 results) Book (2 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Anisotropic breakdown strength of single crystal hexagonal Boron Nitride2016

    • Author(s)
      Y. Hattori, T. Taniguchi, K. Watanabe, and K. Nagashio
    • Journal Title

      ACS appl. mater. interfaces

      Volume: 8 Pages: 27877

    • DOI

      10.1021/acsami.6b06425

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Buffer Layer Engineering on Graphene via Various Oxidation Methods for Atomic Layer Deposition2016

    • Author(s)
      N. Takahashi, and K. Nagashio
    • Journal Title

      Appl. Phys. Express

      Volume: 9 Pages: 125101

    • DOI

      10.7567/APEX.9.125101

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Journal Article] Comparison of device structures for the dielectric breakdown measurement of hexagonal boron nitride2016

    • Author(s)
      Y. Hattori, T. Taniguchi, K. Watanabe, and K. Nagashio
    • Journal Title

      Appl. Phys. Lett.

      Volume: 109 Pages: 253111

    • DOI

      10.1063/1.4972555

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
  • [Presentation] グラフェンの伝導特性2017

    • Author(s)
      長汐晃輔
    • Organizer
      日本化学会第97春季年会「特別企画」二次元物質の科学
    • Place of Presentation
      慶応大学, 日吉, 神奈川
    • Year and Date
      2017-03-16 – 2017-03-16
    • Invited
  • [Presentation] Interface engineering for 2D electonics2017

    • Author(s)
      K. Nagashio
    • Organizer
      Nippon-Taiwan Workshop
    • Place of Presentation
      Kwansei Gakuin Univ. Sanda, Hyogo
    • Year and Date
      2017-02-18 – 2017-02-18
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Dielectric breakdown of hexiagonal boronitride2016

    • Author(s)
      K. Nagashio
    • Organizer
      UTokyo-NTU joint conference at NUT 2016
    • Place of Presentation
      NTU, Taiwan
    • Year and Date
      2016-12-01 – 2016-12-01
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] prograGraphene transistor applicationm2016

    • Author(s)
      K. Nagashio
    • Organizer
      Core to core
    • Place of Presentation
      Tohoku university, Sendai
    • Year and Date
      2016-11-16 – 2016-11-17
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Reliability study on layered 2D insulator2016

    • Author(s)
      K. Nagashio
    • Organizer
      230th Electrochemical Society Meeting
    • Place of Presentation
      Honolulu, Hawaii
    • Year and Date
      2016-10-02 – 2016-10-07
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Gap state analysis and reliability study on 2D electronics2016

    • Author(s)
      K. Nagashio
    • Organizer
      Core to core program
    • Place of Presentation
      Cambridge university, UK
    • Year and Date
      2016-07-18 – 2016-07-19
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Gap engineering & reliability study for 2D electronics2016

    • Author(s)
      K. Nagashio
    • Organizer
      Graphene week
    • Place of Presentation
      Warsaw, Poland
    • Year and Date
      2016-06-13 – 2016-06-17
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Dielectric breakdown of hexagonal Boron Nitride2016

    • Author(s)
      K. Nagashio
    • Organizer
      International conference on graphene and related materials: properties and applications
    • Place of Presentation
      Paestum, Italy
    • Year and Date
      2016-05-23 – 2016-05-27
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Book] "電界効果トランジスタにおけるゲートスタック形成と評価", カーボンナノチューブ・グラフェンの応用研究最前線2016

    • Author(s)
      長汐晃輔,
    • Total Pages
      pp.168-175.
    • Publisher
      エヌ・ティー・エス
  • [Book] 2D materials for nanoelectronics2016

    • Author(s)
      A. Toriumi, K. Nagashio
    • Total Pages
      pp.53-78.
    • Publisher
      CRC Press
  • [Remarks] 東京大学 マテリアル工学専攻 長汐研究室

    • URL

      http://webpark1753.sakura.ne.jp/nagashio_lab/

URL: 

Published: 2018-01-16  

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