2018 Fiscal Year Annual Research Report
research of prevention of low-temperature degradation of ful-countour zirconia prostheses
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16K20481
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| Research Institution | Tohoku University |
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Principal Investigator |
原田 章生 東北大学, 歯学研究科, 助教 (40757267)
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| Project Period (FY) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| Keywords | ジルコニア / 低温劣化 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
用意したジルコニア試料のうち、半数を100時間オートクレーブにて低温劣化処理を加え、それぞれ、ステンレススチール製の超音波スケーラーチップおよびPEEK製の超音波スケーラーチップを用いて、ジルコニア表面へ与える影響を評価した。評価方法は光干渉計による表面粗さの評価、SEMにおよびEBSDによるジルコニア結晶の観察、XRDによる結晶構造の解析を行った。
低温劣化処理のみで表面粗さは有意に増加し、XRD解析により単斜晶が増加したことを認めた。SEMおよびEBSDによる低温劣化の進展深さを試料の切断面から観察したところ、表層16μmまで低温劣化が進展していることがわかった。次に超音波スケーラーチップの違いによる表面粗さへの影響を調査したところ、低温劣化処理を行った群ではPEEK製のチップおよびステンレス製チップを用いたことで有意に表面粗さの増加を認めた。特にステンレススチール製のチップの方がより大きな表面粗さの増加を認めた。低温劣化処理を行わなかった群ではステンレススチール製のチップを用いたことで有意な増加を認めたが、PEEK製チップでは認めなかった。
いずれの群においても超音波処理後にXRD解析を行った結果、スケーラーチップのみではジルコニアの単斜晶の増加は引き起こさないことがわかった。
細菌が付着する表面粗さがRa=0.2と報告されており、今回の試験結果は統計学的には有意な増加・変化を認めたものの臨床的には許容される変化であることがわかった。
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