2005 Fiscal Year Annual Research Report
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17038006
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
前田 京剛 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 助教授 (70183605)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
北野 晴久 東京大学, 大学院・総合文化研究科, 助手 (00313164)
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| Keywords | 超伝導ゆらぎ / 薄膜 / 臨界現象 / ブロードバンド / マイクロ波 |
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| Research Abstract |
(1)高温超伝導体LSCO系において,不足ドープから過剰ドープまでのぼ全ドープ領域において複素交流伝導度における超伝導揺らぎの測定をおこない,以下の結果を得た。
(a)磁場ゼロの状態では,不足ドープのほど全ての試料においてBKT転移が明瞭に観測され,定量的にも二次元XY的に表現されることがわかった。これに対して,最適ドープの狭い領域ではゆらぎが3次元XY的になり,さらに過剰ドープ領域では再び揺らぎの振る舞いが変化することが明らかになった。過剰ドープ領域の振舞いはどちらかというと2次元的であり,サイズ効果による次元クロスオーバーが可能性として考えられている。
(b)不足ドープの試料では磁場下での揺らぎ測定をおこない揺らぎの相関長の発散が磁束量子の格子間隔でおされられてしまうことが分かった。
(2)電子ドープ超伝導体PCCO系の薄膜を入手し予備測定を開始した。現在まだ良い電極を作成する段階で試行錯誤が続いている。
(3)高温超伝導体の参照材料として従来超伝導体NbNの薄膜において複素交流伝導度の揺らぎを測定した。この物質では揺らぎは全てガウス型,しかもAL項のみで明瞭に記述され,且つ,明瞭なサイズ効果が観測された。さらに,試料の不均一の効果がどのように現れるかも明らかにすることができた。これにより,高温超伝導体の実験結果に関して,試料に不均一性があった場合それをどのようにして分離するかということに関して解等が用意されたことにもなる。
(4)テラヘルツ領域の伝導度を測定する装置の作成を室温で開始した。
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