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2006 Fiscal Year Annual Research Report

異種原子位置交換型水平原子操作の制御条件と機構の解明

Research Project

Project/Area Number 17101003
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

森田 清三  大阪大学, 大学院工学研究科, 教授 (50091757)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 阿部 真之  大阪大学, 大学院工学研究科, 助教授 (00362666)
Keywords原子間力顕微鏡 / 水平原子操作 / 交換型原子操作 / フォーススペクトロスコピー / 原子識別 / 原子埋め込み文字 / 国際研究者交流 / スペイン
Research Abstract

1.単純な単元素半導体であるSi(111)-(7×7)で、Siアドアトムの空孔への水平原子操作の機構解明を行った。水平原子操作が起こる最小引力やポテンシャルは共有結合力や共有結合ポテンシャルの最大値よりも非常に小さいことを発見した。さらに、フォースカーブのシミュレーションで、水平原子操作の機構を理論的に解明した。
2.(Pb,Sn)/Si(111)-(√<3>×√<3>)モザイク相のような複雑な「3元素系」半導体では、NC-AFM元素識別像の凹凸差による原子種の区別は不可能であるが、個々の原子の精密なフォースカーブ測定による共有結合引力の最大値の比を用いれば、多元素の混在比を変えなくても原子種を識別できることを見出した。
3.Pb/Ge(111)-c(2×8)表面で混在する2元素を交換型原子操作により元素分離して、局所的にPbが凝集した部分が2×2構造に変わる事を見出した。この元素分離では、アニールとは逆にエントロピーを下げて構造を変えており、析出や局所応力歪や局所エントロピー効果の研究の基盤となる。
4.テコの探針先端原子と試料表面原子が交換する異種原子交換型「垂直」原子操作の存在をSn/Si(111)-(√<3>×√<3>)のSnとSi原子の混在系で実験的に証明した。AFM探針の90%は交換型垂直原子操作を起こさないが、残りの10%では交換型垂直原子操作を起こし、しかも、(1)SiとSn原子を交互に入れ替える探針、(2)Sn原子のみを連続的に試料表面に埋め込む探針、(3)Si原子のみを連続的に試料表面に埋め込む探針の3種類の探針が存在することを発見した。
5.Sn/Si(111)-(√<3>×√<3>)完全相表面にSi原子のみを連続的に埋め込む交換型垂直原子操作探針を利用して、特定のSi原子周辺のSn原子を順番にSi原子と置換して、中心のSi原子のフォースカーブの変化を測定することに成功した。

  • Research Products

    (22 results)

All 2007 2006

All Journal Article (19 results) Book (1 results) Patent(Industrial Property Rights) (2 results)

  • [Journal Article] Mechanism for room-temperature single atom lateral manipulations on semiconductors using dynamic force microscopy2007

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      Physical Review Letters Vol.98 No.10

      Pages: 106104-1- 106104-4

  • [Journal Article] Chemical identification of individual surface atoms by atomic force microscopy2007

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      Nature (Letter) Vol.446, Issue 7131

      Pages: 64-67

  • [Journal Article] Toward Atom-by-Atom Assembly of Compound Semiconductor Nanostructures : Mechanical Atomic Discrimination and Atomic Manipulation at Room Temperatur2007

    • Author(s)
      Seizo Morita
    • Journal Title

      Current Nanoscience Volume 3, Issue 1

      Pages: 31-40

  • [Journal Article] Non-contact atomic force microscopy investigation of the (1×1) and (√<3>×√<3>) phases on the Pb/Si(111) surface2007

    • Author(s)
      Akihiro Ohiso
    • Journal Title

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology Vol. 5

      Pages: 67-73

  • [Journal Article] Atomic structure of Ge clusters on Si(111)-(7×7) by non-contact AFM2007

    • Author(s)
      Insook Yi
    • Journal Title

      Nanotechnology Vol.18

      Pages: 084013-1- 084013-4

  • [Journal Article] Direct observation of the vacancy site of the iron silicide c(4×8) phase using frequency modulation atomic force microscopy2007

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      Nanotechnology Vol.18

      Pages: 084012-1- 084012-4

  • [Journal Article] Japan AFM roadmaps 20062007

    • Author(s)
      Seizo Morita
    • Journal Title

      Nanotechnology Vol.18

      Pages: 084001-1- 084001-4

  • [Journal Article] Non-contact AFM observation of the (√<3>x√<3>) to (3×3) phase transition on Sn/Ge(111) and Sn/Si (111) surfaces2007

    • Author(s)
      Insook Yi
    • Journal Title

      Applied Surface Science Vol.253, Issue 6

      Pages: 3072-3076

  • [Journal Article] 複素ナノ構造体を組み立てる-原子間力顕微鏡で原子を識別・操作・組立-2007

    • Author(s)
      森田清三
    • Journal Title

      真空 第50巻第3号

      Pages: 3

  • [Journal Article] Study on topographic images of Sn/Si(111)-(√<3>×√<3>)R30°surface by non-contact AFM2006

    • Author(s)
      Insook Yi
    • Journal Title

      Surface Science Vol.600, Issue 17

      Pages: 3382-3387

  • [Journal Article] Highly resolved non-contact atomic force microscopy images of the Sn/Si (111)-(2√<3>×2√<3>) surface2006

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      Nanotechnology Vol.17

      Pages: 4235-4239

  • [Journal Article] Discrimination of individual atoms on Ge/Si(111)-(7×7) intermixed surface2006

    • Author(s)
      Insook Yi
    • Journal Title

      Surface Science Vol.600, Issue 13

      Pages: 2766-2770

  • [Journal Article] Real topography, atomic relaxations, and short-range chemical interactions in atomic force microscopy : The case of the α-Sn/Si(111)-(√<3>×√<3>)R30° surface2006

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      Physical Review B Vol.73, No.20

      Pages: 205329-1-2 05329-9

  • [Journal Article] Site-Specific Force Spectroscopy and Atom Interchange Manipulation at Room Temperature2006

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (e-JSSNT) Vol.4

      Pages: 376-383

  • [Journal Article] Single Atomic Contact Adhesion and Dissipation in Dynamic Force Microscopy2006

    • Author(s)
      Noriaki Oyabu
    • Journal Title

      Physical Review Letters Vol.96, No.10

      Pages: 106101-1- 106101-4

  • [Journal Article] NC-AFM study of atomic manipulation on insulator surface by nanoindentation2006

    • Author(s)
      Ryuji Nishi
    • Journal Title

      Nanotechnology Vol.17

      Pages: S142-S147

  • [Journal Article] 原子間力顕微鏡による室温での個々の原子の識別・操作とナノ構造の組立2006

    • Author(s)
      杉本宜昭
    • Journal Title

      日本物理学会誌 Vol.61, No.6

      Pages: 416-419

  • [Journal Article] 原子間力顕微鏡による原子の力学的識別・操作・組立2006

    • Author(s)
      森田清三
    • Journal Title

      真空 Vol.49, No.11

      Pages: 637-641

  • [Journal Article] NC-AFMによるSi(111)-(7×7)表面でのSi adatomの室温水平原子操作2006

    • Author(s)
      杉本宜昭
    • Journal Title

      表面科学 第27巻、第9号

      Pages: 535-539

  • [Book] Roadmap of Scanning Probe Microscopy2006

    • Author(s)
      Seizo Morita (Ed.)
    • Total Pages
      201
    • Publisher
      Springer (NanoScience and Technology series)
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 原子力顕微鏡及びそれを用いた相互作用力測定方法2007

    • Inventor(s)
      大藪範昭, 大田昌弘, 阿部真之, オスカル・クスタンセ, 杉本宜昭, 森田清三
    • Industrial Property Rights Holder
      国立大学法人大阪大学, 株式会社島津製作所
    • Industrial Property Number
      特願2007-7580
    • Filing Date
      2007-01-17
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 探針位置制御装置2006

    • Inventor(s)
      阿部真之, 大田昌弘, 杉本宜昭, 森田健一, 大藪範昭, 森田清三, オスカル・クスタンセ
    • Industrial Property Rights Holder
      株式会社島津製作所および国立大学法人大阪大学
    • Industrial Property Number
      特許特願2006-145881
    • Filing Date
      2006-05-25

URL: 

Published: 2008-05-08   Modified: 2016-04-21  

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