2005 Fiscal Year Annual Research Report
次世代シンクロトロン放射光ナノトモグラフィーによる4Dマテリアルサイエンスの実現
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17360340
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| Research Institution | Toyohashi University of Technology |
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Principal Investigator |
戸田 裕之 豊橋技術科学大学, 工学部, 助教授 (70293751)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
大垣 智己 豊橋技術科学大学, 工学部, 産学官連携研究員 (10378242)
小林 正和 豊橋技術科学大学, 工学部, 中核的研究機関研究員 (20378243)
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| Keywords | シンクロトロン放射 / トモグラフィー / その場観察 / 三次元開発 / 材料強度 / 破壊 / 歪計測 / 可視化技術 |
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| Research Abstract |
これまで開発してきた精密衝撃圧縮試験機、CTによる三次元・その場・局所評価技術等を活用し、各種構造用材料のミクロ組織の可視化、サブミクロンレベルでの損傷挙動観察を行い、観察技術、評価手法の高度化を図った。実験室レベルの3D-CTなど可視化装置では分解能の問題で物理的に観察できないものの、一般の材料では必ず評価検討されるミクロレベルの内部組織を定量評価した。特に本年度は、通常CT画像では区別できない異なる化学組成を持つ粒子を、新たにK吸収端イメージング法を開発適用して分離・定量評価した。これまで行ってきた通常荷重、および疲労負荷を利用した損傷挙動と上記ミクロ組織定量解析結果を関係付け、品質保証、信頼性保証、損傷防止に資する知見を、他所では実施できないミクロレベルで解明できる技術を開発している。発泡金属、アルミニウム鋳物合金などいくつかの材料に関する破壊特性支配因子の抽出、破壊原因の特定等メカニズムの解析、解明手法を、適用した。また、それらの手法が、実用化時にこのグループの用いている特殊なシンクロトロン放射光CTではなく、一般の企業で利用できる3D-CT装置で実施できるよう、大きな試験片ないし部品中の局所領域を高分解能で観察できる関心領域撮像法を開発した。また、これまで実施してきたミクロ組織追跡による内部歪み可視化などの手法を確立し、これらを合わせて各種構造機能用材料の3D損傷破壊挙動の高度な評価解析手法の周辺技術を確立した。
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[Journal Article] 3D internal strain mapping by tracking microstructural features in tomographic volumes of structural materials2006
Author(s)
H.Toda, N.Kuroda, M.Takata, K.Uesugi, T.Ohgaki, M.Kobayashi, K.Makii, Y.Aruga, T.Akahori, M.Niinomi, T.Kobayashi
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Journal Title
Proceedings of the 8th International Conference on X-ray Microscopy, Institute of Pure and Applied Physics, Japan (印刷中)
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