2007 Fiscal Year Annual Research Report
多成分・広粒度分散微粒子系のための表面局在電磁波を利用する粒径同時測定法の開発
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17550081
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| Research Institution | Kagoshima University |
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Principal Investigator |
吉留 俊史 Kagoshima University, 工学部, 准教授 (60253910)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
肥後 盛秀 鹿児島大学, 工学部, 教授 (10128077)
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| Keywords | 粒径計測 / 赤外分光 / ATR / 表面電磁波 / 成分別計測 / 増強 / 金属薄膜 |
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| Research Abstract |
H19年度の実績は、研究計画調書とH18年度の進行状況に、配分額および人員などの研究態勢を加味して立案した交付申請書に沿って以下のとおりである。
1.単一成分の微粒子についてATR信号と入射角度の関係を調べる: H18年度にシリカについてATR信号-入射角度の関係を求めた結果、理論との大きなズレが観測された。新たにプリズムを設計・試作して実験を行った結果、理論とのより良い一致が得られた。
2.ATR法を用いて混合微粒子系の粒度分散を求める手法の検討_1: シリカ単一成分で分散のある微粒子系を想定して、その分散をATR法により求める手法を検討した結果、H18年度は1種類の粒径を仮定したとき代数的な数値演算を援用することでその平均粒径を求めることができた。これを元にH19年度は、広分散の系に対して代数的手法の可能性を調べた結果、2種類の粒径の場合は、高精度の実験が行えたときに粒径が求められること、3種類の場合は、代数的手法では困難なことが明らかとなった。
3.ATR法を用いて混合微粒子系の粒度分散を求める手法の検討_2:広分散の系に対して、その分散を求めるために、代数的手法とは別にカーブフィットなどの数値計算的手法を検討するため、本系に特化したコンピュータプログラムの開発を試みた。
4.SEIRAによる粒径測定法の基本手法の確立:Ag, Pb薄膜によるSEIRAを用いて、微粒子サイズを求める基本的手法を検討するための装置の試作を行い、その実験的手法を確立した。また、基礎的情報を得るための実験を行い、表面上での粒子の存在状態などについての知見を得た。
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