• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2005 Fiscal Year Annual Research Report

高性能EB-PVDコーティングの応力と強度評価

Research Project

Project/Area Number 17560068
Research InstitutionNiigata University

Principal Investigator

鈴木 賢治  新潟大学, 人文社会・教育科学系, 教授 (30154537)

KeywordsEB-PVD / 遮熱コーティング / ジルコニア / X線応力測定 / シンクロトロン放射光 / 高エネルギーX線 / 残留応力
Research Abstract

初年度においては,高性能EB-PVDコーティングの成膜方法と成膜による結晶構造の変化を解析した.Ni基耐熱超合金基材面に,CoNiCrAlYを減圧プラズマ溶射し,さらにナノコーティング技術によりボンドコート面を処理した.その上に,ジルコニアを電子ビーム物理蒸着法により成膜した.基材を固定した場合,また毎分5,10および20回転した場合において,成膜特性が異なった.特に,基材を固定では膜厚方向に<111>配向するコーティングを示したが,回転成膜法では<100>配向が現れた.
次いで,本研究のように強い優先配向を持つジルコニア膜の応力測定方法について研究した.応力測定に適した測定方法を見つけるために,極点図,背面反射X線写真,SEM観察などを行い,配向特性と応力評価に利用できるX線回折条件の検討を行った.回転成膜法では,<100>方位が+/-20度程度コーティング厚さ方向に傾いていた.その結果,側傾法で133+331回折を利用して2点法により,表面の面内方向の残留応力が評価できた.また,高エネルギー放射光によりコーティング内部の残留応力分布を測定するための測定条件および測定方法について検討を行った.
本研究テーマは,高輝度光科学研究センターの課題として採択され,高エネルギーX線によるひずみスキャニング法についても試みることができた.これまで,強い配向膜のひずみスキャニング法は試された例はなく,本実験により測定条件を検討したところ,72keVのX線によりジルコニアの(111)および(600)回折については,残留応力測定に利用できる可能性が高かった.
次年度は,高エネルギー残留応力測定方法の確立,高温酸化したEB-PVD膜の残留応力測定をめざす.さらに,これらの基礎に立ち,高温熱サイクル測定も達成する予定である.

  • Research Products

    (5 results)

All 2006 2005

All Journal Article (5 results)

  • [Journal Article] アナライザを用いたひずみスキャニング法の表面効果の補正2006

    • Author(s)
      菖蒲敬久, 水木純一郎, 鈴木賢治, 秋庭義明, 田中啓介
    • Journal Title

      材料 55・1

      Pages: 101-108

  • [Journal Article] 高温酸化した遮熱コーティングの残留応力分布の解析2005

    • Author(s)
      鈴木賢治, 久保貴博, 田中啓介, 秋庭義明
    • Journal Title

      材料 54・7

      Pages: 679-684

  • [Journal Article] Spalling Stress in Oxidized Thermal Barrier Coatings evaluated by X-ray Diffraction Method2005

    • Author(s)
      K.Suzuki, K.Tanaka
    • Journal Title

      Materials Science Forum 490/491

      Pages: 631-636

  • [Journal Article] 高エネルギー放射光によるEB-PVD遮熱コーティングの残留応力分布の解析2005

    • Author(s)
      鈴木賢治, 松本一秀, 久保貴博, 町屋修太郎, 田中啓介, 秋庭義明
    • Journal Title

      日本機械学会論文集,A編 71・711

      Pages: 1523-1529

  • [Journal Article] 高エネルギー放射光を用いたひずみスキャニング法による残留応力分布測定2005

    • Author(s)
      町屋修太郎, 秋庭義明, 鈴木賢治, 田中啓介, 栗村隆之, 小熊英隆
    • Journal Title

      日本機械学会論文集,A編 71・711

      Pages: 1530-1537

URL: 

Published: 2007-04-02   Modified: 2016-04-21  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi