2005 Fiscal Year Annual Research Report
大規模システムLSIのテスト・コスト削減技術に関する研究
Project/Area Number |
17700086
|
Research Institution | Institute of Systems & Information Technologies KYUSHU |
Principal Investigator |
杉原 真 (財)九州システム情報技術研究所, 第一研究室, 研究員 (80373538)
|
Keywords | システムLSI / SOC / テスト容易化設計 / テスト・コスト / TAM |
Research Abstract |
本課題では,増加の一途を辿る「システムLSI(SOC:System-On-a-Chip)」のテスト・コストへの対処として,「大規模システムLSIのテスト・コスト削減技術」に関する研究を遂行した.システム・レベル・アプローチによって,テスト・アーキテクチャ,及び,テスト・データを最適化し,テスト・コストを削減する新規技術を研究開発した.具体的には,以下の研究項目に対して研究を遂行した. (1)テスト・データ伝搬経路(TAM,Test Access Mechanism)に関する研究 テスト時間を削減するために,テスト・データの通り道となるTAMの最適化に関する研究を行った.まず,TAMの最適化を数理計画問題として定義した.定義したTAM最適化問題を,計算用高性能UNIXサーバー及び数理計画問題最適化エンジンを用いて,最適なTAMを求めた.システムLSIのTAMを最適化するソフトウェアの開発を行った。 (2)テスト・スケジューリングに関する研究 テスト時間を削減するような,全てのコアのテスト適用順序を求めるテスト・スケジューリングに関する研究を行った.すなわち,テスト時間が最小になるような,各コアのテスト・データ及びDFT回路,TAM,圧縮アルゴリズムと展開回路・圧縮回路の配置,テスト実行方法を求めた.テスト・スケジューリングを数理最適化問題として定義し,計算用高性能UNIXサーバーと数理計画問題最適化エンジンを用いて,最適なテスト・スケジューリングを求めた.
|
Research Products
(7 results)
-
[Journal Article] Cell library development methodology for throughput enhancement of character projection equipment2006
Author(s)
M.Sugihara, T.Takata, K.Nakamura, R.Inanami, H.Hayashi, K.Kishimoto, T.Hasebe, Y.Kawano, Y.Mastunaga, K.Murakami, K.Okumura
-
Journal Title
IEICE Transactions on Electronics Vol.E89-C, No.3
Pages: 377-383
-
[Journal Article] Technology mapping technique for throughput enhancement of character projection equipment2006
Author(s)
M.Sugihara, T.Takata, K.Nakamura, R.Inanami, H.Hayashi, K.Kishimoto, T.Hasebe, Y.Kawano, Y.Matsunaga, K.Murakami, K.Okumura
-
Journal Title
Proc.SPIE Volume:6151, Emerging Lithographic Technologies X Volume 6151
Pages: 71-82
-
-
-
-
-
[Journal Article] キャラクタプロジェクション法のためのセルライブラリ開発手法2005
Author(s)
杉原真, 高田大河, 中村健太, 稲浪良市, 林博昭, 岸本克己, 長谷部鉄也, 河野幸弘, 松永裕介, 村上和彰, 奥村勝弥
-
Journal Title
情報処理学会研究報告 Vol.2005,No.102
Pages: 197-202