2019 Fiscal Year Annual Research Report
LSI Test and Diagnosis for Defects on Power Supply Network
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17K00081
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| Research Institution | Kyushu Institute of Technology |
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Principal Investigator |
宮瀬 紘平 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授 (30452824)
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| Project Period (FY) |
2017-04-01 – 2020-03-31
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| Keywords | LSIテスト / 消費電力解析 / LSI設計 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
近年の半導体製造技術は、配線幅20nm以下まで微細化することが可能になってきた。一方、微細化により欠陥の起こるメカニズムは非常に複雑化し、欠陥回路のテスト・診断が非常に難しくなってきている。微細化が進むにつれ、電源供給信号線の欠陥がスタンダードセル（NAND、AND等のセル）に対する電源供給に与える影響が大きくなると考えられる。昨年度の研究実施状況報告書に基づき研究実績の概要を下記に示す。
(1)電源供給信号線上の欠陥に対する診断(平成31年4月～令和元年10月)欠陥の位置を特定することが可能なアルゴリズムを開発する予定であったが、EDAツール（商用LSI設計・検証ツール）のIR-Drop解析のための研究用ライセンスが現状の低価格での契約では利用できなくなったため、欠陥位置を特定することは困難となった。しかし、欠陥が大きな影響を与えると考えられる高消費電力エリアを特定する手法を提案し、シミュレーション実験で特定したエリアが、実際に消費電力が高くなることを確認した。
(2)診断用テスト入力生成（令和元年6月～令和元年12月）EDAツールのライセンス構成の変更で欠陥を検出するテスト入力生成を行う研究は困難となったが、特定したエリアの消費電力を制御するためのテスト生成を行い、シミュレーション実験によって欠陥検出の向上に利用可能であることを確認した。
(3)研究成果の評価・まとめ（平成31年4月～令和2年3月）研究成果をまとめ、査読を有する国際会議IEEE International Test Conference in Asia 2019にて論文および口頭発表を行った。その他、成果を国内研究会で2件発表した。
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