• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2006 Fiscal Year Annual Research Report

自己組織化ナノ構造形成プロセス

Research Project

Project/Area Number 18063015
Research InstitutionNara Institute of Science and Technology

Principal Investigator

浦岡 行治  奈良先端科学技術大学院大学, 物質創成科学研究科, 助教授 (20314536)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 池田 篤志  奈良先端科学技術大学院大学, 物質創成科学研究科, 助教授 (90274505)
山本 伸一  神戸市立工業高等専門学校, 電気工学科, 助教授 (70399260)
畑山 智亮  奈良先端科学技術大学院大学, 物質創成科学研究科, 助手 (90304162)
矢野 裕司  奈良先端科学技術大学院大学, 物質創成科学研究科, 助手 (40335485)
Keywordsバイオテクノロジー / タンパク / 自己組織化材料 / 走査型プローブ顕微鏡 / ケルビンプローブ顕微鏡 / 走査型トンネル顕微鏡 / MOSデバイス / コバルト
Research Abstract

これまで我々のグループでは、遺伝子工学的に作製したフェリチンタンパク質に予め金属化合物を内包させておき、基板上高密度配置後にタンパク質を除去することで量子効果素子等の無機材料なの構造を作製してきた。その一例として、コバルトコアを電荷保持ノードとして利用したフローティングゲートメモリの開発を行っている。フェリチンをデバイス作製プロセスに応用する際のメリットの一つに、タンパク内部で多種のコアを選択的に合成できるというものがあるが、将来的には作製したい機能性デバイスに最適なフェリチンコアを選択する、または選択したコアに合わせたデバイス構造設計を行う必要がある。そのためには個々のフェリチンコアの物性を予め知っておくことが必要である。
そこで我々は、走査型プローブ顕微鏡(SPM)を用いて単一フェリチンコアの電子物性を解析し、同様のコアを用いて実際に作製したデバイスに関する電気特性評価結果との比較検討を行った。SPM解析の具体的な手法として、ケルビンプローブ顕微鏡(KFM)を用いたフェリチンコアの電荷保持特性の評価、走査型トンネル顕微鏡(STM)による単一コアのイメージングとトンネル分光法(STS)を用いたコアの導電特性解析を行い、最終的にコアのMOSデバイス中におけるエネルギーバンド構造を検討した。
バンド構造モデルから得られた、CoコアとSi基板のエネルギーバンドの相対的な位置関係や、Coコアのバンドギャップの値は、今回のSPM解析結果から見積もった値と非常に良く一致している。

  • Research Products

    (7 results)

All 2007

All Journal Article (6 results) Book (1 results)

  • [Journal Article] Thermal Degradation Under Pulse Operation in Low-Temperature p-channel Poly-Si Thin Film Transistors2007

    • Author(s)
      Shinichiro Hashimoto, Yukiharu Uraoka, Takashi Fuyuki, Yukihiro Morita
    • Journal Title

      IEEE/Trans. Electron Device Vol 52, No. 2

      Pages: 297

  • [Journal Article] Crystallization of Double-Layered Silicon Thin Films by Solid Green Laser Annealing2007

    • Author(s)
      Yuta Sugawara, Yukiharu Uraoka, Hiroshi Yano, Tomoaki Hatayama, Takashi Fuyuki, A, Mimura
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics Vol. 46,No. 8

      Pages: L164

  • [Journal Article] Reliability Analysis of Ultra-Low-Temperature Poly-Si Thin Film Transistors2007

    • Author(s)
      Hitoshi Ueno, Yuta Sugawara, Hiroshi Yano, Tomoaki Hatayama, Yukiharu Uraoka, Takashi Fuyuki
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics Vol. 46,No. 3B

      Pages: 1303

  • [Journal Article] Characterization of electronic properties of single bionanodot2007

    • Author(s)
      R.Tanaka, A.Miura, Y.Uraoka, T.Fuyuki, I.Yamashita
    • Journal Title

      The proceeding of the 3^<rd> International TFT Conference

      Pages: 308

  • [Journal Article] Low Temperature Poly-Si TFT Flash Memory with Si Nano crystal Dot2007

    • Author(s)
      K.Ichikawa, H.Yano, T.Hatayama, Y.Uraoka, T.Fuyuki
    • Journal Title

      The proceeding of the 3^<rd> International TFT Conference

      Pages: 340

  • [Journal Article] Enlargement of Grain size poly-Si suing Ferritin Protein with Ni Nano particles2007

    • Author(s)
      Y.Nanjo, Y.Uraoka, T.Fuyuki, M.Okuda, I.Yamashita
    • Journal Title

      The proceeding of the 3^<rd> International TFT Conference

      Pages: 90

  • [Book] システムオンパネルを目指した薄膜トランジスタ2007

    • Author(s)
      浦岡行治
    • Total Pages
      342
    • Publisher
      CMC出版

URL: 

Published: 2008-05-08   Modified: 2016-04-21  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi