• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2008 Fiscal Year Annual Research Report

3次元電子線トモグラフィによる亀裂先端転位群の立体構造解析

Research Project

Project/Area Number 18360305
Research InstitutionKyushu University

Principal Investigator

東田 賢二  Kyushu University, 大学院・工学研究院, 教授 (70156561)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 金子 賢治  九州大学, 大学院・工学研究院, 准教授 (30336002)
Keywordsクラック / 電子線トモグラフィ / 応力遮蔽効果 / 転位 / 破壊靭性
Research Abstract

材料の脆性的性質は種々の構造物破壊事故の基本要因となるとともに,工業的には種々の新材料実用化に際して最大の障害の一つである.この脆性的性質は亀裂先端からの転位の生成・増殖により抑制できるが,この転位増殖過程は複雑な三次元構造を有しており,脆性破壊抑止の基本方針確立のためには,亀裂先端転位構造の立体解析が強く望まれている.本研究では,亀裂先端転位群の立体構造観察という目標に対して,三次元電子線トモグラフィという,従来この分野では試みられたことのない新たな手法を持って挑み,その詳細な構造解析を行った.本年度は,昨年度で得られた結果を発展させるべく,亀裂先端から発生した転位の電子線トモグラフィ観察に挑んだ.まず,マイクロビッカース硬度計を用いてSi結晶の(001)面に圧痕を付加し,{110}面亀裂を導入した.その後熱処理を施すことで亀裂先端転位に転位を発生させる.その亀裂先端を含むようにイオンミリング装置で薄膜化する.その試料を電子顕微鏡の鏡筒内で±60度〜70度傾斜させることで,トモグラフィ観察を行った.その結果,亀裂先端から鎌状に張り出す転位の立体構造が明らかとなった.更に像シミュレーション方を併用し,転位のバーガースベクトルをその符号まで詳細に解析したところ,亀裂先端のmodeIIを遮蔽する転位であることが明らかとなった.さらに,超高圧電子顕微鏡を用いたトモグラフィ観察によって,45°shear type塑性域を形成する転位群の3次元構造も明かとなった.

  • Research Products

    (8 results)

All 2008

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (6 results)

  • [Journal Article] Crack Tip Dislocations Revealed by Electron Tomography in Silicon Single Crystal2008

    • Author(s)
      M. Tanaka, K. Higashida, K. Kaneko, S. Hata, M. Mitsuhara
    • Journal Title

      Scripta Materialia 59

      Pages: 901-904

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Three-dimensional observation of dislocations by electron tomography in a silicon crystal2008

    • Author(s)
      M. Tanaka, M. Honda, M. Mitsuhara, S. Hata, K. Kaneko, K. Higashida
    • Journal Title

      Materials Transactions 49

      Pages: 1953-1956

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 3-D observations by combining scanning transmission electron microscopy and computed tomography2008

    • Author(s)
      K. Higashida, M. Tanaka, M. Mitsuhara, K. Kaneko, S. Hata
    • Organizer
      4th International Symposium on Designing, Processing and Properties of Advanced Engineering Materials (ISAEM-2008)
    • Place of Presentation
      Nagoya, Japan
    • Year and Date
      2008-11-19
  • [Presentation] Crack tip dislocations observed by TEM in single crystal silicon2008

    • Author(s)
      M. Tanaka, K. Higashida
    • Organizer
      4th International Symposium on Designing, Processing and Properties of Advanced Engineering Materials (ISAEM-2008)
    • Place of Presentation
      Nagoya, Japan
    • Year and Date
      2008-11-19
  • [Presentation] Three-dimensional analyses of crack tip dislocations observed by electron tomography2008

    • Author(s)
      M. Tanaka, M. Honda, M. Mitsuhara, S. Hata, K. Kaneko, K. Higashida
    • Organizer
      The 9th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC9)
    • Place of Presentation
      Jeju, Korea
    • Year and Date
      2008-11-06
  • [Presentation] 亀裂先端転位群の3次元電子線トモグラフィ解析2008

    • Author(s)
      本田雅幹, 定松直, 田中將己, 金子賢治, 東田賢二, 光原昌寿, 波多聰
    • Organizer
      日本金属学会143秋期大会
    • Place of Presentation
      熊本大学
    • Year and Date
      2008-09-23
  • [Presentation] Si単結晶におけるクラック先端転位群の電子線トモグラフィ解析2008

    • Author(s)
      本田雅幹, 田中將己, 光原昌寿, 波多聰, 金子賢治, 東田賢二
    • Organizer
      平成20年度日本金属学会九州支部・日本鉄鋼協会九州支部合同学術講演大会
    • Place of Presentation
      九州大学
    • Year and Date
      2008-06-07
  • [Presentation] 亀裂先端転位の三次元構造観察2008

    • Author(s)
      田中將己, 本田雅幹, 光原昌寿, 金子賢治, 波多聰, 東田賢二
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会
    • Place of Presentation
      国立国際会館
    • Year and Date
      2008-05-23

URL: 

Published: 2010-06-11   Modified: 2016-04-21  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi