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2008 Fiscal Year Final Research Report

3-D analyses for crack tip dislocations by using electron tomography

Research Project

  • PDF
Project/Area Number 18360305
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

Allocation TypeSingle-year Grants
Section一般
Research Field Physical properties of metals
Research InstitutionKyushu University

Principal Investigator

HIGASHIDA Kenji  Kyushu University, 大学院・工学研究院, 教授 (70156561)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) KANEKO Kenji  九州大学, 大学院・工学研究院, 准教授 (30336002)
Co-Investigator(Renkei-kenkyūsha) NOGUCHI Hiroshi  九州大学, 大学院・工学研究院, 教授 (80164680)
MORIKAWA Tatsuya  九州大学, 大学院・工学研究院, 助教 (00274506)
ARAMAKI Masatoshi  九州大学, 大学院・工学研究院, 助教 (50175973)
Project Period (FY) 2006 – 2008
Keywordsクラック / 電子線トモグラフィ / 転位
Research Abstract

近年金属材料分野への応用が始まった電子線トモグラフィ法は, 主に吸収コントラストを用いた観察に限られてきたため, 回折コントラストを用いて結像させる転位のトモグラフィ観察は難しい状況にあった. そのような中で本研究では, 試料の回転軸と回折ベクトルを供に亀裂進展方向と平行になるよう制御し, 連続傾斜像取得中に転位のコントラストを一定に保つことで, 亀裂先端転位群のトモグラフィ観察を行い, 亀裂先端転位の三次元構造を明らかにした.

  • Research Products

    (18 results)

All 2008 2007 2006

All Journal Article (8 results) Presentation (10 results)

  • [Journal Article] 材料の破壊靭性に対する微視的アプローチ2008

    • Author(s)
      東田賢二, 田中將己
    • Journal Title

      組成と加工 49

      Pages: 19-23

  • [Journal Article] Three-dimensional observation of dislocations by electron tomography in a silicon crystal2008

    • Author(s)
      M. Tanaka, M. Honda, M. Mitsuhara, S. Hata, K. Kaneko and K. Higashida
    • Journal Title

      Mater. Trans. 49

      Pages: 1953-1956

  • [Journal Article] Crack Tip Dislocations Revealed by Electron Tomography in Silicon Single Crystal2008

    • Author(s)
      M. Tanaka, K. Higashida, K. Kaneko, S. Hata and M. Mitsuhara
    • Journal Title

      Scripta Materialia 59

      Pages: 901-904

  • [Journal Article] Crack tip dislocations and its shielding effect2007

    • Author(s)
      M. Tanaka, Y. Hoshino, A. Hartmaier, K. Higashida
    • Journal Title

      Mater.Sci. Forum561-565

      Pages: 1833-1836

  • [Journal Article] 高傾斜3軸試料ホルダーを用いたSi単結晶中の転位の3D観察2007

    • Author(s)
      波多聰, 宮崎裕也, 田中將己, 東田賢二
    • Journal Title

      まてりあ 46

      Pages: 785

  • [Journal Article] Orientation dependence of fracture toughness measured by indentation ethods and its relation to surface energy in single crystal silicon2006

    • Author(s)
      M. Tanaka, K. Higashida, H. Nakashima, H. Takagi and M. Fujiwara
    • Journal Title

      Int. J. Fracture 139

      Pages: 683-394

  • [Journal Article] Si結晶中のき裂先端転位とその内部応力場の赤外光弾性法による可視化2006

    • Author(s)
      東田賢二, 田中將己, 星野由美
    • Journal Title

      材料開発のための顕微鏡法と応用写真集,(日本金属学会編)

      Pages: 186

  • [Journal Article] Crack Tip dislocations Observed by High-Voltage Electron-Microscopy in Single Crystal Silicon2006

    • Author(s)
      K. Higashida and M. Tanaka
    • Journal Title

      Proceedings of 16th International Microscopy Congress, Publication committee of IMC16 (Ed. by H. Ichinose and T. Sasaki)

      Pages: 110

  • [Presentation] 亀裂先端転位群の電子線トモグラフィ観察2008

    • Author(s)
      本田雅幹, 定松直, 田中將己, 金子賢治, 東田賢二, 光原昌寿, 波多聰
    • Organizer
      第50回日本顕微鏡学会九州支部学術講演会
    • Place of Presentation
      久留米大学
    • Year and Date
      2008-12-06
  • [Presentation] Crack tip dislocations observed by TEM in single crystal silicon2008

    • Author(s)
      M. Tanaka, K. Higashida
    • Organizer
      4th International Symposium on Designing, Processing and Properties of Advanced Engineering Materials(ISAEM-2008)
    • Place of Presentation
      Nagoya,Japan
    • Year and Date
      2008-11-22
  • [Presentation] 3-D observations by combining scanning transmission electron microscopy and computed tomography2008

    • Author(s)
      K. Higashida, M. Tanaka, M. Mitsuhara, K. Kaneko, S. Hata
    • Organizer
      4th International Symposium on Designing, Processing and Properties of Advanced Engineering Materials (ISAEM-2008)
    • Place of Presentation
      Nagoya, Japan
    • Year and Date
      2008-11-19
  • [Presentation] Three-dimensional analyses of crack tip dislocations observed by electron tomography2008

    • Author(s)
      M. Tanaka, M. Honda, M. Mitsuhara, S. Hata, K. Kaneko, K. Higashida
    • Organizer
      The 9th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC9)
    • Place of Presentation
      Jeju, Korea
    • Year and Date
      2008-11-06
  • [Presentation] 亀裂先端転位群の3次元電子線トモグラフィ解析2008

    • Author(s)
      本田雅幹, 定松直, 田中將己, 金子賢治, 東田賢二, 光原昌寿, 波多聰
    • Organizer
      日本金属学会143秋期大会
    • Place of Presentation
      熊本大学
    • Year and Date
      2008-09-23
  • [Presentation] Si単結晶におけるクラック先端転位群の電子線トモグラフィ解析2008

    • Author(s)
      本田雅幹, 田中將己, 光原昌寿, 波多聰, 金子賢治, 東田賢二
    • Organizer
      平成20年度日本金属学会九州支部・日本鉄鋼協会九州支部合同学術講演大会
    • Place of Presentation
      九州大学
    • Year and Date
      2008-06-07
  • [Presentation] Crack tip dislocations and their configuration revealed by electron tomography in silicon single crystal2008

    • Author(s)
      M. Tanaka, K. Higashida
    • Organizer
      Eighth International Conference on Fundamentals of Fracture, Jan
    • Place of Presentation
      Guangzhou, China
    • Year and Date
      2008-06-06
  • [Presentation] 亀裂先端転位の三次元構造観察2008

    • Author(s)
      田中將己, 本田雅幹, 光原昌寿, 金子賢治, 波多聰, 東田賢二
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会
    • Place of Presentation
      国立国際会館
    • Year and Date
      2008-05-23
  • [Presentation] 超高圧電顕法による亀裂先端転位構造の解析2008

    • Author(s)
      東田賢二, 田中將己
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第64回学術講演会
    • Place of Presentation
      国立国際会館
    • Year and Date
      2008-05-22
  • [Presentation] 電子線トモグラフィーによる亀裂先端転位の三次元構造解析2008

    • Author(s)
      田中將己, 金子賢治, 東田賢二, 光原昌寿, 波多聰
    • Organizer
      日本金属学会142回春期大会
    • Place of Presentation
      武蔵野工大
    • Year and Date
      2008-03-28

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Published: 2010-06-10   Modified: 2016-04-21  

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