2008 Fiscal Year Final Research Report
Software-Based Self-Test for Processors to guarantee high fault efficiency for structured faults
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18500038
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 一般 |
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| Research Field |
Computer system/Network
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| Research Institution | Nara Institute of Science and Technology |
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Principal Investigator |
INOUE Michiko Nara Institute of Science and Technology, 情報科学研究科, 准教授 (30273840)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
OHTAKE Satoshi 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20314528)
YONEDA Tomokazu 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
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| Project Period (FY) |
2006 – 2008
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| Keywords | 設計自動化 / VLSIのテスト / テスト容易化設計 |
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| Research Abstract |
本研究では、機能テストと構造テストの特長を活かしたテスト手法である、プロセッサの命令レベル自己テスト法の研究を行った.パイプラインプロセッサに対し、モジュール単体でのテスト生成と命令列探索を組み合わせて効率のよいテスト生成手法を提案し、パス遅延故障に対し高い故障検出効率が得られることを示した.さらに、自己テストプログラムを効率よく生成する手法であるテンプレートを用いて生成された自己テストプログラムのためのテスト容易化設計手法を提案した提案法は、テンプレートレベル故障検出効率100%、すなわち、誤りマスクを完全に回避できることを特長とする.
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