2007 Fiscal Year Annual Research Report
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18540324
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| Research Institution | Kure National College of Technology |
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Principal Investigator |
小山 通榮 Kure National College of Technology, 一般科目, 教授 (10099848)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
植田 義文 呉工業高等専門学校, 電気情報工学科, 教授 (10127615)
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| Keywords | クロムカルコゲナイド / 構造相転移 / 磁性 / 共鳴光電子分光 / 共鳴逆光電子分光 / 電子構造 / 部分状態密度 |
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| Research Abstract |
クロムカルコゲナイドの物性は組成比xに依存することがわかっている。CrS, CrSe, Cr_xTeについては状態密度が計算されている。本研究ではCr_xY(Y=S, Se, Te)の非占有状態におけるCr 3p-3d共鳴逆光電子分光実験を行い、伝導帯におけるCr 3d部分状態密度を調べ、カルコゲンの効果及び原子空孔の効果について調べた。また、共鳴逆電子分光実験から得られた状態密度を計算された状態密度と比較検討した。この結果、Cr_xSe, Cr_xTeについては伝導帯のCr 3d部分状態密度は価電子帯と同様に、クロムサイトの空孔に依存しないことがわかった。Cr_xSについては現在測定中である。また、カルコゲンの違いでは、カルコゲンがS→S→Teになるに従って交換分裂エネルギーは大きくなり、バンド計算と同じ傾向になっていることがわかった。しかし、交換分裂エネルギーの数値は実験値の方が大きくなっている。
CrSの試料においては半導体-金属転移が報告されていることから、高分解能極低温光電子分光実験により低温相におけるフェルミ準位近傍の電子状態を調べた。この結果、温度が低くなるに従って、フェルミ準位付近の強度が低くなっていることがわかった。しかし、スペクトル中に温度変化とともに変化をする構造が見つかり、再度測定を行なう予定である。
(Cr_xV_<1-x>)3Te_4についてはすでに単結晶をつくり、測定待ちの状態である。
これらの実験は広島大学放射光科学研究センターに設置された放射光ビームラインBL-9, BL-7およびRIPES装置を使って行なった。
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