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2006 Fiscal Year Annual Research Report

固体フッ素化剤-シリコン界面固相反応を用いたシリコン表面の形状創成加工の研究

Research Project

Project/Area Number 18560104
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

打越 純一  大阪大学, 大学院工学研究科, 助手 (90273581)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 森田 瑞穂  大阪大学, 大学院工学研究科, 教授 (50157905)
有馬 健太  大阪大学, 大学院工学研究科, 助手 (10324807)
Keywordsフッ素化剤 / シリコン / エッチング / 固相反応 / 界面 / 形状創成 / 近赤外光 / 干渉計
Research Abstract

本研究は、シンクロトロン放射光用ミラーなどに用いられる単結晶シリコンミラーの形状創成加工を、シリコン表面にフッ素化剤を塗布した後、光を照射して固相反応でエッチングを行うことにより実現しようとするものである。固相反応で加工することができれば、目的形状に創成加工を行なった後、シリコンが透明な波長1310nmの近赤外干渉計で形状計測を行いながら加工できるので容易に形状修正加工が行え、高精度な創成加工を行なうことができる。以下に本年度の研究実績の概要を示す。
1)加工前のシリコン表面を超清浄洗浄するとともにフッ素化剤の塗布を容易にするため、超精密加工研究拠点のウルトラクリーンルーム内のクリーンドラフトチャンバーでトータル室温洗浄プロセスを行った。
2)固体フッ素化剤を溶媒に溶解し、シリコン表面にフッ素化剤膜を塗布して洗浄条件と塗布特性、溶解度と塗布特性の関係を調べた。
3)シリコン表面にフッ素化剤膜を塗布して洗浄条件と塗布特性の関係を調べた。
4)固体フッ素化剤薄膜を塗布したシリコンに光を照射し、フッ素化剤の固相反応によりシリコン表面のエッチング加工を行った。
5)フッ素化剤を剥離し、位相シフト干渉顕微鏡を用いて加工痕形状の観察し、光照射によりシリコン表面が加工されていることを確かめた。
6)各波長域の光を照射し加工の波長依存性を調べた。
7)形状計測を行う近赤外干渉計の測定再現性がPV値で32nm以下、RMS値で0.55nm以下であることを確かめた。

  • Research Products

    (4 results)

All 2006

All Journal Article (4 results)

  • [Journal Article] Absolute line profile measurements of plane silicon mirrors with an anti-reflection film using near-infrared ray interferometry2006

    • Author(s)
      N.Ajari, J.Uchikoshi, A.Tsuda, T.Okamoto, T.Hirokane, A.Funamoto, K.Arima, M.Morita
    • Journal Title

      PROGRAM and ABSTRACTS, Second International Symposium on Standard Materials and Metrology for Nanotechnology. Tokyo, 2006

      Pages: 25-26

  • [Journal Article] Characterization of Void in Bonded SOI Wafers by Controlling Coherence Length of Near-Infrared Microscope2006

    • Author(s)
      Noritaka Ajari, Junichi Uchikoshi, Takaaki Hirokane, Kenta Arima, Mizuho Morita
    • Journal Title

      Extended Abstracts of the 2006 International Conference on Solid State Devices and Materials, Yokohama, 2006

      Pages: 486-487

  • [Journal Article] Absolute straightness measurements of plane silicon mirrors with wedge by near-infrared ray interferometry2006

    • Author(s)
      Noritaka Ajari, Junichi Uchikoshi, Amane Tsuda, Akihiro Funamoto, Kenta Arima, Mizuho Morita
    • Journal Title

      Extended Abstracts of International 21st Century COE Symposium on Atomistic Fabrication Technology

      Pages: 127-128

  • [Journal Article] 近赤外干渉計によるシリコンミラーの絶対形状測定-ウェッジ付きシリコンミラーの絶対形状測定-2006

    • Author(s)
      阿砂利典孝, 打越純一, 津田周, 廣兼孝亮, 有馬健太, 森田瑞穂
    • Journal Title

      精密工学会2006年度関西地方定期学術講演会講演論文集

      Pages: 57-58

URL: 

Published: 2008-05-08   Modified: 2016-04-21  

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