2006 Fiscal Year Annual Research Report
ナノ〜ミクロをズームできる新しい三次元観察ツール:TEMによらないナノ組織観察
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18656206
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| Research Institution | Toyohashi University of Technology |
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Principal Investigator |
戸田 裕之 豊橋技術科学大学, 工学部, 教授 (70293751)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
上杉 健太朗 (財)高輝度光科学センター, 研究員 (80344399)
大垣 智己 豊橋技術科学大学, 工学部, 特任講師 (10378242)
小林 正和 豊橋技術科学大学, 工学部, 講師 (20378243)
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| Keywords | 可視化 / 材料強度 / 放射光 / ゾーンプレート / 3-D |
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| Research Abstract |
FZPを用いた結像イメージングを、金属材料やセラミックスのイメージングを念頭に、X線エネルギー7〜10keVで行った。この際、SPring-8のビームタイム(ビームラインBL47XU使用)を確保し、7月に第1回の撮像実験を行った。この場合、X線領域で充分な拡大倍率(50〜60倍以上)が得られるため、CCDカメラとシンチレーターの分解能は特に問題とはならず、SPring-8で現在用いられているX線CT用のものを流用した。また、サンプルと線源の間にX線のCoherenceを落とすための拡散板(およそ10Hzで回転させながら使用)を挿入することで、試料表面や各種界面で発生するスペックル干渉縞による画質の低下を抑えられた。
この他、次年度に必要ないくつかの実験解析技術の研究開発を平行、先行して行った。一般に、トモグラフィーでは試料をカバーするような幅広のX線ビームを用いる。この方法では、高分解能観察しようとすると画像データが通常取り扱える範囲(〜10Gbite)をはるかに超えてしまう。そこで、平成18年度はlocal tomography法によるバルク試料中の局所的高分解能観察を可能にする予備実験およびアルゴリズムの開発を行った。これには、wavelet変換を応用した。さらに、次年度に本提案での開発結果のデモンストレーションのために撮像、解析する金属材料のナノ構造の選定と調製、ナノ組織定量画像解析法の検討、開発、次年度で予測される問題点の解決に資する画像補正手法の開発を行った。
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