2006 Fiscal Year Annual Research Report
マルチクロックドメイン・システムオンチップのテスト容易化設計に関する研究
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18700046
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| Research Institution | Nara Institute of Science and Technology |
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Principal Investigator |
米田 友和 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助手 (20359871)
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| Keywords | テスト容易化設計 / テストスケジューリング / システムオンチップ / ネットワークオンチップ / マルチクロックドメイン |
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| Research Abstract |
平成18年度は、マルチクロックドメインコアに対して、IEEE std.1500に準拠したラッパー設計法を提案し、VLSIテストに関するワークショップである「IEEE WRTLT'06」にて研究成果発表を行った。また、平成19年5月にはVLSIテストに関する国際会議である「IEEE VLSI Test Symposium」で発表予定である。これにより、IEEE標準に準拠しながらも、消費電力制約下で短いテスト実行時間を実現可能である。
また本年度は、各コアはシングルクロックドメインで動作するが、コア毎に動作周波数の異なるマルチクロックドメイン・システムオンチップを対象とし、それに対するテストアーキテクチャおよびテストスケジューリング手法に関する研究を行った。テストアーキテクチャとしては、マルチクロックドメイン・システムオンチップに存在する既存のシステムバスをテスト時に利用する手法と、既存のシステムバスを利用せずに新たにテスト専用のバスを付加する手法の2つの観点で研究を行った。それぞれの手法に適したテストアーキテクチャおよび消費電力制約下で短いテスト実行時間を達成するテストスケジューリング法を提案し、VLSI設計に関する国際会議である「IEEE International Conference on Computer Design」、「Asia and South Pacific Design Automation Conference」にて研究成果発表を行い、「IEEE International Symposium on Circuits and Systems」においても研究成果を発表予定である。
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