2008 Fiscal Year Annual Research Report
非線形ひずみ存在下におけるOFDM信号のビット誤り率の理論的導出法に関する研究
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18760287
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| Research Institution | Waseda University |
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Principal Investigator |
前原 文明 Waseda University, 理工学術院, 准教授 (80329101)
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| Keywords | OFDM / 非線形増幅 / 非線形ひずみ / 帯域制限 / オーバーサンプリング |
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| Research Abstract |
OFDM信号は周波数利用効率に優れており, ガードインターバルを用いて周波数選択性フェージングの影響を抑圧できる反面, 時間領域において高いピーク電力を有することから, 電力増幅の際に帯域外輻射と信号ひずみからなる非線形ひずみが生じる問題点がある. したがって, 現実的なOFOM信号の伝送特性を把握するためには, フェージングの影響だけでなく非線形ひずみの影響を考慮することが極めて重要である.
一般に, 伝送特性の解析には, 計算機シミュレーションが適用されるが, 対象となるシステムが複雑になるにつれて, 計算コストが増大することから, できる限り理論的なアプローチにより伝送特性を解析できることが望ましい.
そこで, 本研究では, 理論的なアプローチにより, フェージングに加えて非線形ひずみが存在する現実的な伝送路条件を想定したときのOFDM信号のビット誤り率(BER)特性を解析することを目的とする.
平成18年度は, 非線形ひずみに起因した信号ひずみの影響が熱雑音と同様のガウス雑音に近似できることを計算機シミュレーションにより把握した.
平成19年度は, 非線形ひずみと熱雑音が存在する環境下におけるOFDM信号の理論BERを導出するとともに, 理論BER特性と計算機シミュレーションにより得られるB田特性を比較することにより, 導出式の妥当性を確認した.
平成20年度では, 平成18年度および平成19年度の検討成果に基づき, 非線形ひずみと熱雑音に加えてフェージングが存在する現実的な伝送路条件下におけるOFDM信号の理論BERを簡易な級数表現を用いて導出した. さらに, 理論BER特性と計算機シミュレーションにより得られるBER特性とを比較・評価することにより, 導出式の妥当性を確認した.
以上より, フェージングと非線形ひずみが存在する現実的な伝送路条件下において, OFDM信号の理論BERが導出できる見通しを得た.
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