2006 Fiscal Year Annual Research Report
エリス・ファン・クレフェルト症候群の原因遺伝子の解明
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18791507
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| Research Institution | Kyushu University |
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Principal Investigator |
菊田 るみこ 九州大学, 大学院・歯学研究院, 助手 (80403955)
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| Keywords | 遺伝学 / 遺伝子 / ゲノム |
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| Research Abstract |
エリス・ファン・クレフェルト症候群を姉弟で有する家系を得るため、インフォームドコンセントが得られた後、父親、母親、姉、弟の末梢血を採取した(本研究はこの疾患が口唇裂を伴うことから、日本人口唇口蓋裂の遺伝解析を行うことの一環として倫理委員会の承認を得ている)。
それぞれの末梢血顆粒球よりDNAを抽出し(Rapid法)、候補遺伝子とされているEVC遺伝子、EVC2遺伝子につき変異検索を行っている。
本年度はEVC遺伝子全24exonとプロモータ領域のPCR増幅を行った。各プライマーはNCBIデータベースから得たmRNAの配列をもとに、全てのexonを含むように設計した。また推定プロモーター領域はコーディング開始配列より上流1kbを2つのプライマーセットに分けて増幅を行った。
さらに、その内の10exonとプロモーター領域につきダイレクトシークエンシング法による変異検索を行った。結果として、1人のサンプルにつき1つのexon内にヘテロ変異が認められた。
これまでも、本疾患は遺伝子内のマルチプルな変異が存在することが報告されている(Ruiz-Perez VL.et al.,2002)。本研究においても、複数サンプルで同部位に変異が認められないことから、やはり遺伝子内に変異が分散していることが示唆された。
今後、EVC遺伝子につき残り全てのexon及びプロモーター領域の解析を継続して行う予定である。
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