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2019 Fiscal Year Annual Research Report

エピタキシャル膜を用いた蛍石構造強誘電体の特性支配因子の解明

Research Project

Project/Area Number 18H01701
Research InstitutionTokyo Institute of Technology

Principal Investigator

舟窪 浩  東京工業大学, 物質理工学院, 教授 (90219080)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 清水 荘雄  東京工業大学, 物質理工学院, 助教 (60707587)
Project Period (FY) 2018-04-01 – 2021-03-31
Keywords酸化ハフニウム / 強誘電性 / 特性支配因子
Outline of Annual Research Achievements

本研究の目的は、不可能とされた薄膜化を行っても既存材料に匹敵する強誘電特性を発現し新規材料として有望な蛍石構造強誘電体について、強誘電性を支配する特性因子を明らかにすることである。研究代表者が世界に先駆けて作製に成功したエピタキシャル膜を用い、電界印加の前後、および電界印加下で行う独自の構造評価手法で結晶構造とドメイン構造にアプローチすることによって、従来の理論では説明できなかった蛍石構造強誘電体の特性発現機構の解明と新しい強誘電体理論の構築を目指す。本年度は以下の成果を得た。

1) 室温で作製した膜は、通常、常誘電相の単晶相であり、高温の熱処理によって正方晶に相転移し、その後の冷却過程で強誘電相の直方晶に相転移することを明らかにした。
2) Y-(Hf、Zr)O2まで組成を拡張し、Zr/Hf比が減少すると強誘電相が安定して得られるY含有量が減少することを見出した。また、Zr/Hf比が増加するとより低温の熱処理でも強誘電相が得られることを明らかにした。また、Zr/Hf比を増加させて作製した強誘電相の相転移温度は低下していくことを明らかにした。
3) Y置換HfO2では強誘電性が安定に存在することを用いて製膜条件を検討した結果、室温で強誘電相が作成可能な条件があることを明らかにした。この条件を用いると耐熱性の無い有機基材上や耐熱性のないガラス状に、透明な強誘電体膜が作成できることを明らかにした。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

広い生成範囲で安定して強誘電性を出現することに成功した。また、キュリー温度の可変に成功するとともに、室温での合成にも成功した。

Strategy for Future Research Activity

今後は得られたサンプルに対する詳細な評価を行うとともに、さらに広い範囲の組成の膜について評価を行っていく。また、膜の歪の影響についても評価していく予定である。

  • Research Products

    (27 results)

All 2020 2019 Other

All Int'l Joint Research (1 results) Journal Article (6 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results,  Peer Reviewed: 6 results) Presentation (17 results) (of which Int'l Joint Research: 11 results,  Invited: 1 results) Remarks (1 results) Patent(Industrial Property Rights) (2 results)

  • [Int'l Joint Research] 国立宇宙物理・光学・電子研究所(メキシコ)

    • Country Name
      MEXICO
    • Counterpart Institution
      国立宇宙物理・光学・電子研究所
  • [Journal Article] Room-temperature deposition of ferroelectric HfO2-based films by the sputtering method2020

    • Author(s)
      Takanor Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Uchida, Hiroshi Funakubo
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 116 Pages: 062901~062901

    • DOI

      10.1063/1.5140612

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Thickness- and orientation- dependences of Curie temperature in ferroelectric epitaxial Y doped HfO2 films2020

    • Author(s)
      Takanori Mimura, Takao Shimizu, Yoshio Katsuya, Osami Sakata, Hiroshi Funakubo
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 59 Pages: SGGB04~SGGB04

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ab6d84

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] NiSi2 as a bottom electrode for enhanced endurance of ferroelectric Y-doped HfO2 thin films2020

    • Author(s)
      Joel Molina-Reyes, Takuya Hoshii, Shun-Ichiro Ohmi, Hiroshi Funakubo, Atsushi Hori, Ichiro Fujiwara, Hitoshi Wakabayashi, Kazuo Tsutsui, Kuniyuki Kakushima
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 59 Pages: SGGB06~SGGB06

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ab6b7c

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Preparation of near-1-mm-thick {100}-oriented epitaxial Y-doped HfO2 ferroelectric films on (100)Si substrates by an RF magnetron sputtering method2020

    • Author(s)
      Reijiro Shimura, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Yoshitomo Tanaka, Yukari Inoue, Hiroshi Funakubo
    • Journal Title

      Journal of the Ceramic Society of Japan

      Volume: - Pages: -

    • DOI

      -

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Formation of the orthorhombic phase in CeO2-HfO2 solid solution epitaxial thin films and their ferroelectric properties2019

    • Author(s)
      T. Shiraishi, S. Choi, T. Kiguchi, T. Shimizu , H. Funakubo, T. J. Konno
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 114 Pages: 232902~232902

    • DOI

      10.1063/1.5097980

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Ferroelectricity in YO1.5-HfO2 films around 1μm in thickness2019

    • Author(s)
      Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 115 Pages: 032901~032901

    • DOI

      10.1063/1.5097880

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] HfO2基薄膜のZr, Yドープによる結晶相変化と強誘電相の安定性2020

    • Author(s)
      田代裕貴、三村和仙、清水荘雄、勝矢良雄、坂田修身、木口賢紀、白石貴久、今野豊彦、舟窪浩
    • Organizer
      第58回セラミックス基礎科学討論会
  • [Presentation] エピタキシャルHfO2基膜を用いた直方晶相安定化の調査2020

    • Author(s)
      三村和仙、清水荘雄、舟窪浩
    • Organizer
      第67回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] スパッタリング法によるHfO2基強誘電体厚膜の室温製膜とその電気特性評価2020

    • Author(s)
      志村礼司郎、三村和仙、舘山明紀、清水荘雄、舟窪浩
    • Organizer
      第67回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] Robust ferroelectricity in thick HfO2-based film2019

    • Author(s)
      Takao Shimizu, Takanori Mimura, Hiroshi Funakubo
    • Organizer
      STAC-11 (The 11th International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Robust Ferroelectricity in Y-Doped HfO2 Films2019

    • Author(s)
      Takao Shimizu, Takanori Mimura, Hiroshi Funakubo
    • Organizer
      F2cπ2 2019 (Joint ISAF-ICE-EMF-IWPM-PFM meeting 2019)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Thickness-dependent crystal structure of epitaxial ferroelectric 0.07YO1.5-0.93HfO2 and HZO films2019

    • Author(s)
      Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo
    • Organizer
      ISIF 2019 (7th International Symposium on Intagrated Functionalities)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Endurance Improvement in Ferroelectric Y-doped HfO2 Thin Films on NiSi2 with Low-Thermal Budget Processing2019

    • Author(s)
      J. Molina Reyes, T. Hoshii, S.-I. Ohmi, H. Funakubo, A. Hori, I. Fujiwara, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, K. Kakushima
    • Organizer
      SSDM 2019 (2019 International Conference on Solid State Devices and Materials)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Thickness- and orientation-dependence of Curie temperature of ferroelectric epitaxial HfO2 based films2019

    • Author(s)
      T. Mimura, T. Shimizu, Y. Katsuya, O. Sakata, H. Funakubo
    • Organizer
      SSDM 2019 (2019 International Conference on Solid State Devices and Materials)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] スパッタリング法を用いたY:HfO2強誘電体膜の室温成膜2019

    • Author(s)
      三村和仙、清水荘雄、舟窪浩
    • Organizer
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] HfO2基薄膜の電界誘起相転移2019

    • Author(s)
      田代裕貴、三村和仙、清水荘雄、勝矢良雄、坂田修身、木口賢紀、白石貴久、今野豊彦、舟窪浩
    • Organizer
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] Preparation and characterization of Y, Zr-doped HfO2 thin films by PLD method2019

    • Author(s)
      Yu-ki Tashiro, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo
    • Organizer
      CJFMA11 (The 11th China and Japan Symposium on Ferroelectric Materials and Their Applications)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] The phase stability and epitaxial growth of HfO2-based ferroelectric materials2019

    • Author(s)
      Takao Shimizu, Takanori Mimura, Hiroshi Funakubo
    • Organizer
      PACRIM13 (The 13th Pacific Rim Conference of Ceramic Societies)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Preparation and Characterization of Y, Zr-doped HfO2 Thin Film by PLD Method2019

    • Author(s)
      Yu-ki Tashiro, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo
    • Organizer
      19th US-Japan Seminar on Dielectric and Piezoelectric Ceramics
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Recent Progress on Ferroelectric HfO2 Epitaxial Films2019

    • Author(s)
      Takao Shimizu, Takanori Mimura, Hiroshi Funakubo
    • Organizer
      19th US-Japan Seminar on Dielectric and Piezoelectric Ceramics
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Stability of Ferroelectric Orthorhombic Phase in Epitaxial HfO2-based Films2019

    • Author(s)
      Takanori Mimura, Takao Shimizu, Yoshio Katsuya, Osami Sakata, Hiroshi Funakubo
    • Organizer
      19th US-Japan Seminar on Dielectric and Piezoelectric Ceramics
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] スパッタリング法を用いたY:HfO2強誘電体厚膜の作製とその電気特性評価2019

    • Author(s)
      志村礼司郎、三村和仙、清水荘雄、舟窪浩
    • Organizer
      第39回電子材料研究討論会
  • [Presentation] Phase stability and property control of ferroelectric HfO2 films2019

    • Author(s)
      Hiroshi Funakubo, Takanori Mimura, Takao Shimizu
    • Organizer
      MRM2019 (Materials Research Meeting 2019
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Remarks] 東京工業大学 物質理工学院 材料系材料コース 舟窪研究室

    • URL

      http://f-lab.iem.titech.ac.jp/f-lab.htm

  • [Patent(Industrial Property Rights)] 強誘電性薄膜の製造方法、強誘電性薄膜、及びその用途2019

    • Inventor(s)
      舟窪浩、清水荘雄、三村和仙、中村美子
    • Industrial Property Rights Holder
      舟窪浩、清水荘雄、三村和仙、中村美子
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      特願2019-086836
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 圧電体の製造方法、圧電体、及び圧電体素子又は装置2019

    • Inventor(s)
      舟窪浩、清水荘雄、三村和仙、中村美子
    • Industrial Property Rights Holder
      舟窪浩、清水荘雄、三村和仙、中村美子
    • Industrial Property Rights Type
      特許
    • Industrial Property Number
      特願2019-086840

URL: 

Published: 2021-01-27  

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