2020 Fiscal Year Annual Research Report
Construction Method of Macro Model for Evaluation of IC immunity to Conducted Disturbance
Project/Area Number |
18K04264
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Research Institution | Kyushu Institute of Technology |
Principal Investigator |
松嶋 徹 九州工業大学, 大学院工学研究院, 准教授 (00571415)
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Project Period (FY) |
2018-04-01 – 2021-03-31
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Keywords | EMC / 妨害波イミュニティ / Transmission line pulse |
Outline of Annual Research Achievements |
パワーエレクトロニクス機器(以下、パワエレ機器)によって発せられた妨害波の時間波形は鋭いピークを持ち、また回路の共振により特定周波数で減衰振動する波形である。パワエレ機器が通信システムの近傍に存在する車載環境においては、発せられたパルス性妨害波が通信線に混入し通信性能の劣化を引き起こす可能性がある。それに対して、IEC等で議論されている通信機器の耐ノイズ性能評価法(イミュニティ評価法)では、正弦波形状の妨害波を印加して誤動作を判別する手法である。昨今のパワエレ機器の発展・普及に伴いパルス性妨害波を評価する必要が有る。 本研究では、イミュニティ評価のために、立ち上がり速度がナノ秒程度であり数百Vの波高値を持つパルス妨害波生成法としてTransmission Line Pulse法(以下、TLP法)を利用した高周波パルス生成回路を開発した。TLP法では、パルス波は特性インピーダンスが50Ωの伝送線路を伝搬して評価対象であるデバイスに到達するため、妨害波印加系の高周波特性が良く高い再現性が実現できる。評価対象として、ツェナーダイオードを用いて検証した結果、大電流が流れだすスナップバック現象が観測された。 また、実際の妨害波印加系は50Ωではなく、わーねすの接地環境によってはより高い/低いインピーダンスの系である。そこで、印加系の特性インピーダンスを変更することができるTLP生成回路を開発した。特に高いインピーダンスでパルス妨害波が混入した際の応答を実験的に調査した。その結果、妨害波注入経路の特性インピーダンスの変化によってツェナーダイオードの電流電圧特性が変化する現象を確認した。
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