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2018 Fiscal Year Research-status Report

故障検出機構を用いた多重化によるAMSシステムの高信頼化

Research Project

Project/Area Number 18K11222
Research InstitutionKochi University of Technology

Principal Investigator

橘 昌良  高知工科大学, システム工学群, 教授 (50171715)

Project Period (FY) 2018-04-01 – 2021-03-31
KeywordsAnalog-Mixed Signal / Built-In Self Test / Impulse Response / パラメータ故障 / カタストロフィック故障 / デペンダブルコンピューティング
Outline of Annual Research Achievements

本研究はAMS(Analog Mixed Signal)システムLSIの高信頼化を目的としたアナログ回路の故障検出をシステムの動作中にも行える機 構の開発を種鶴目的としている。この機構はAMSシステムがデジタル/アナログ両方の回路を組み合わせて使える利点を利用して、検査 対象となるアナログ回路の動作を必要としない時間を利用してテストを進めることで、システムの動作状態での動作以上の検出を行う ことができるシステムを提案し、LSI化を行いその有効性を実証することを目標としている。
平成30年度には、基準電源回路のカタストロフィック故障を検出するための回路に関してLSI化とΔΣ変調器でのカオス発 振に基づいたパラメータ故障の検出手法のLSI化による動作確認、ローパスフィルタのオシレータ化によるパラメトリック故障の検出手法のLSI化による動作確認を行った。
基準電源については素子バラツキにより動作確認には至らなかったため、素子バラツキの範囲を確認するための回路をLSI化し、測定を行っている。がΔΣ変調器に関しては積分器に用いられている抵抗、キャパシタについてパラメー タ故障を検出できることが確認できた。 上記のテスト手法のなかで、カオス発振を利用した手法は、これまで開発してきたインパルス応答による故障検出手法と比べると、 パラメータ故障も検出できるので応用範囲が広いが、LSI化した場合の検証が不十分であり、今後の研究が必要である。 以上の研究結果については、3件の論文(査読付き)、国内学会での発表が1件ある。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

計画では基準電流/電圧発生回路については実チップでの実証を行う予定であったが、LSIのパラメータバラツキの影響で実チップ での確認はまだできていない。パラメータバラツキを考慮した回路の設計を現在行っており、、令和元年度に確認を行う予定である。カオ ス発振によるパラメータ故障の検出は実チップでの検証を行ったが、アナログ回路によるカオス発振回路の特性に実質的な再現性がな い可能性があり、この点を令和元年度に検討を行う予定である。

Strategy for Future Research Activity

平成30年度の研究成果を踏まえて、基準電流/電圧発生回路の故障検出に関しては実チップでの実証を行い有効性を確認する予定である。カオス発振を利用したパラメータ故障の検出に関しては、応用範囲の拡大と、実チップでの確認を行う予定である。また、発振回路の特性の再現性に関しても検討を行う予定である。

  • Research Products

    (4 results)

All 2018

All Journal Article (3 results) (of which Int'l Joint Research: 3 results,  Peer Reviewed: 3 results,  Open Access: 3 results) Presentation (1 results)

  • [Journal Article] A 0.18-μm CMOS high-data-rate true random bit generator through ΔΣ modulation of chaotic jerk circuit signals2018

    • Author(s)
      Wannaboon, Chatchai ; Masayoshi Tachibana ; Wimol San-Um
    • Journal Title

      AIP Chaos: An Interdisciplinary Journal of Nonlinear Science

      Volume: 28 Pages: 1-20

    • DOI

      https://doi.org/10.1063/1.5022838

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Phase difference analysis technique for parametric faults BIST in CMOS analog circuits2018

    • Author(s)
      Chatchai Wannaboon, Nattagit Jiteurtragool, Wimol San-Um, Masayoshi Tachibana
    • Journal Title

      IEICE Electronics Express

      Volume: 15 Pages: 1-9

    • DOI

      https://doi.org/10.1587/elex.15.20180175

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Robustification of a One-Dimensional Generic Sigmoidal Chaotic Map with Application of True Random Bit Generation2018

    • Author(s)
      Nattagit Jiteurtragool ; Masayoshi Tachibana ; Wimol San-Um
    • Journal Title

      Entropy

      Volume: 20 Pages: 1-15

    • DOI

      https://doi.org/10.3390/e20020136

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
  • [Presentation] バンドギャップ基準電源回路を対象としたBIST手法の検討2018

    • Author(s)
      猪岡 柚香、橘 昌良
    • Organizer
      DAシンポジュウム2018

URL: 

Published: 2019-12-27  

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