2021 Fiscal Year Annual Research Report
SoC Debugging Technique based on Automatic Generation of On-Chip Signal Observation
| Project/Area Number |
18K11224
|
|---|
| Research Institution | Tokyo Denki University |
|---|
Principal Investigator |
小松 聡 東京電機大学, 工学部, 教授 (90334325)
|
|---|
| Project Period (FY) |
2018-04-01 – 2022-03-31
|
| Keywords | VLSI設計技術 / オンチップ信号観測 / デバッグ支援 / 自動生成 |
|---|
| Outline of Annual Research Achievements |
本研究では、近年重要性が増しているSoCのシグナルインテグリティ、パワーインテグリティの問題について、プロトタイプの段階でのデバッグ支援を目的とするオンチップ信号観測システムを実現し、また、それを自動生成するシステムの構築を目的としている。SoC開発において、VLSIチップ上で発生する上記の現象を外部から観測することは困難であり、オンチップでの波形観測が求められているが、アプリケーションに応じたオンチップ信号観測システムを自動生成することを目的としている。
今年度は、オンチップ信号観測システムの要素技術である逐次比較ADC、フラッシュADC、サブレンジングADCの自動生成システムを構築とその評価、実試作チップを用いたオンチップ信号観測の評価を行った。
オンチップ信号観測システム内の要素回路については、自動生成システムを実現することを目的としているため、基本的にはスタンダード・セルのみで実現可能な逐次比較型AD変換回路を提案し、回路シミュレーションおよび試作チップの測定による評価を行った。複数種類のADC を論理合成・配置配線ツールを用いた設計が可能なスタンダード・セルを用いて構成，及び動作の再現を行った。また、それらのADC を自動で生成するシステムを構築することにより，要求される様々なパラメータに対して柔軟に、かつ素早く対応出来る簡略で効率的なADC の設計法を提案した。
オンチップ信号観測システムの評価のために、ローム社0.18μm CMOSプロセスを用いて自動生成した逐次比較ADCとフラッシュADCのチップ試作を行った。入力信号として1.8Vp-p，周波数100kHzの正弦波を入力し、AD変換された出力信号の特性を評価することによって、本研究で提案したADCの自動生成システムの評価を行った。
|
Research Products
(2 results)
