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2019 Fiscal Year Annual Research Report

Site-selective analysis of local structure and electronic states of ferroelectrics using electron spectroscopic multi-probes

Research Project

Project/Area Number 18K18931
Research InstitutionTohoku University

Principal Investigator

津田 健治  東北大学, 学際科学フロンティア研究所, 教授 (00241274)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 森川 大輔  東北大学, 多元物質科学研究所, 助教 (10632416)
Project Period (FY) 2018-06-29 – 2020-03-31
Keywords電子線インコヒーレントチャンネリング / 軟X線発光分光 (SXES) / 電子エネルギー損失分光 (EELS) / 強誘電体 / ドープ原子
Outline of Annual Research Achievements

BaサイトにCaをドープしたチタン酸バリウム(Ba, Ca)TiO3試料に対し、引き続き電子線インコヒーレントチャンネリング法を適用した。同一サイトに確率的に位置するBa原子とCa原子を回折法のみで区別して検出することは困難であるが、エネルギー分散型特性X線分析を組み合わせて、動力学回折効果による電子線チャンネリングを利用することで、BaとCaの局所構造・対称性情報を分離して取り出すことが可能となる。電子ビームロッキング装置を備えたJEM-2010FEF透過型電子顕微鏡を用いて、単ドメイン領域からBa原子とCa原子の特性X線2次元角度分布を取得した。まだ実験データの統計ノイズに改善の余地があるものの、両者は明瞭に異なる2次元分布を持ち、Ba原子サイトにドープされたCa原子がBa原子とは異なる位置にあることを示した。さらに、電子線の動力学回折理論に基づく特性X線分布シミュレーションを行って実験と比較した結果、実験で得られた特性X線分布が、Ca原子のオフセンタリングを伴う構造モデルにより説明できることを明らかにした。これは第一原理計算から予想されていたCaオフセンタリングを直接示す初めての実験結果であり、(Ba, Ca)TiO3の巨大な電気誘起歪み等の物性解明につながるものと言える。
また、電子エネルギー損失分光法を(Ba, Ca)TiO3およびBaTiO3に適用した。得られたO-K edgeスペクトルは、これら2つの試料でO原子周りの局所環境が異なることを示しており、Ca原子のオフセンタリングとコンシステントな結果である。
さらに、高クロム鋳鉄中のM6Cカーバイド相に電子線インコヒーレントチャンネリング法を適用し、Fe原子およびMo原子の特性X線2次元角度分布が明瞭に異なることを新たに見出した。特性X線分布シミュレーションを通して構造モデルを検討した。

  • Research Products

    (9 results)

All 2019 Other

All Int'l Joint Research (1 results) Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results) Presentation (7 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results,  Invited: 2 results)

  • [Int'l Joint Research] チェンマイ大学理学部(タイ)

    • Country Name
      THAILAND
    • Counterpart Institution
      チェンマイ大学理学部
  • [Journal Article] Investigation of the arrangement of oxide ion vacancies and their effect on the crystal structure of BaFe0.9In0.1O3-δ2019

    • Author(s)
      Fumito Fujishiro, Chinatsu Sasaoka, Yusuke Shibata, Kenji Tsuda and Takuya Hashimoto
    • Journal Title

      Journal of American Ceramics Society

      Volume: 102 Pages: 4427-4430

    • DOI

      10.1111/jace.16470

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Local crystal structure analysis using STEM-CBED method2019

    • Author(s)
      Kenji Tsuda
    • Organizer
      The 36th International Conference of Microscopy Society of Thailand
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] ピクセル型STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による強誘電体の局所構造解析2019

    • Author(s)
      津田健治, 佐川隆亮,橋口裕樹,近藤行人
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第75回学術講演会
  • [Presentation] 大角度ロッキングCBED図形を用いた軌道整列状態の静電ポテンシャル分布解析2019

    • Author(s)
      森川大輔,津田 健治
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第75回学術講演会
  • [Presentation] 収束電子回折法を用いた試料ダメージ層の定量評価2019

    • Author(s)
      上石正樹,森川大輔,佐藤 香織,津田 健治,寺内正己
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第75回学術講演会
  • [Presentation] Local structural study of ferroelectric domain boundaries using STEM-CBED with a fast pixelated STEM detector2019

    • Author(s)
      Kenji Tsuda, Ryusuke Sagawa, Hiroki Hashiguchi and Yukihito Kondo
    • Organizer
      Microscopy and Microanalysis 2019, Portland, OR, USA
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] ピクセル型高速STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による局所構造解析2019

    • Author(s)
      津田健治、佐川隆亮、橋口裕樹、近藤行人
    • Organizer
      日本顕微鏡学会 第35回分析電子顕微鏡討論会
  • [Presentation] STEM-CBED法によるペロブスカイト型強誘電体の局所構造解析2019

    • Author(s)
      津田健治
    • Organizer
      東北大学金属材料研究所 共同利用・共同研究ワークショップ「強誘電体関連物質の機能発現に関する構造科学の新展開」
    • Invited

URL: 

Published: 2021-01-27  

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