2007 Fiscal Year Annual Research Report
HiCIAO用MEMS可変形鏡を用いたスペックル制御の研究
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19015008
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| Research Institution | National Astronomical Observatory of Japan |
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Principal Investigator |
GUYON Olivier National Astronomical Observatory of Japan, ハワイ観測所, RCUH職員 (90399288)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
高見 英樹 国立天文台, ハワイ観測所, 教授 (00270455)
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| Keywords | 補償光学系 / コロナグラフ / 太陽系外惑星 |
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| Research Abstract |
本研究はすばる望遠鏡で太陽系外の惑星を検出するための新技術に基く装置開発である。明るい恒星の周りにある暗い惑星を検出するためには、恒星の光の外側への影響を低減する技術が必要で、そのために中心に光を集中させる補償光学系と外側の光を効率よく低減するコロナグラフの開発を行ってきている。ここでは次の2つのテーマについての研究をおこなった。
1)焦点面補償光学系の開発(アルゴリズム)
これは焦点面の星の画像の情報を用いて光波面誤差を測定し、可変形鏡を制御して、波面補正を行う新しい補償光学系である。実際に撮像を行なう焦点面の情報を用いるために、極めて高い精度での波面補正ができることが特徴である。19年度は、これまでの逐次的な方法に変えて、高速で波面を補正することができるアルゴリズムの開発を行った。この新しいアルゴリズムの実証試験をすばる望遠鏡用試験装置に装備したMEMS型可変系鏡を用いて行なった。その結果、このアルゴリズムがすばる望遠鏡で用いられる補償光学系実機とほぼ同じ設計のシステムにおいて極めて良好な性能を発揮することがわかった。
2)焦点面補償光学系の開発(ハードウェア)
MEMS型可変形鏡を用いた焦点面補償光学系の光学・機械系の開発を行った。上記のアルゴリズムを用いた補償光学系を開発し、それをすばる望遠鏡に取り付けることを目的としている。19年度にはこれに必要な光学部品・機械部品を購入し、現在組み立て調整中である。また、MEMS型可変形鏡の性能試験を開始した。
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