2011 Fiscal Year Annual Research Report
低加速ナノプローブで電子励起したナノ構造からの放射光角度分解分光観察
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19101004
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
高柳 邦夫 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (80016162)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
山本 直紀 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (90108184)
谷城 康眞 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教 (40143648)
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| Keywords | 収差補正 / 電子顕微鏡 / ナノプローブ / ルミネッセンス / 表面プラズモン |
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| Research Abstract |
前年度で透過型電子顕微鏡の印加電圧を80kVまで低加速化することができたので、本年度は電子線照射の影響の少ない条件でルミネッセンスなどの発光現象と表面プラズモンとの相互作用についての研究を行った。
(1)金属クラスターの研究:さまざまな形状(3角形、ロッド、スターなど)の微粒子についてLSPやギャッププラズモンからの発光を測定し、特に50nm以下のサイズの銀微粒子について発光スペクトルのサイズ依存性を明らかにした。LSP局在電磁場を利用したルミネッセンス増強効果については、銀微粒子の共鳴エネルギーがZnOナノワイヤーのルミネッセンスの発光エネルギーに一致する付近で増強が起こることを示した。
(2)SPPのCavityモードの研究:前年度に続き1次元プラズモニック結晶の欠陥におけるCavityの性質を詳細に調べた。Cavity内に形成されるSPP定在波を観察してCavityモードの波数とエネルギーが平面上を伝播するSPPの分散関係に近いことが分かった。また、Cavity幅の変化によるエネルギーの変化や定在波の対称性の変化についても明らかにした。
(3)ナノ構造によるSmith-Purcell放射、チェレンコフ放射、遷移放射の研究:ナノ構造をもつ材料に対し、電子線誘起放射を利用して誘電率や組成の空間変化をナノメータースケールで測定し、TEM-CL法の材料評価法としての可能性を探った。
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[Journal Article] Electron microscopy at a sub-50 pm resolution2011
Author(s)
K.Takayanagi, S.Kim, S.Lee, Y.Oshima, T.Tanaka, Y.Tanishiro, H.Sawada, F.Hosokawa, T.Tomita, T.Kaneyama, Y.Kondo
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Journal Title
Journal of Electron Microsc
Volume: 60
Pages: S239-S244
DOI
Peer Reviewed
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