2009 Fiscal Year Self-evaluation Report
Angle-resolved spectroscopic observation using light from nano-structures excited by low-energy electron probe
Project/Area Number |
19101004
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
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Allocation Type | Single-year Grants |
Research Field |
Nanostructural science
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Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
Principal Investigator |
TAKAYANAGI Kunio Tokyo Institute of Technology, 大学院・理工学研究科, 教授 (80016162)
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Project Period (FY) |
2007 – 2011
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Keywords | 収差補正 / 電子顕微鏡 / ナノプローブ / ルミネッセンス / 表面プラズモン |
Research Abstract |
(1)本研究では、サブ-ナノメートルに絞られた電子ビームでナノ構造物質を励起し、局所領域から放射される光を同時観測するSTEM-CL装置の開発を行う。 (2)ナノ領域からの発光現象、表面プラズモンと光との変換過程などについて、エネルギーと運動量の関係(分散関係)を明らかにして、ナノ構造物質(半導体、金属、ハイブリッド)での電子-光現象を研究する。
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[Journal Article] Measurement Method of Aberration from Ronchigram by Autocorrelation Function2008
Author(s)
H. Sawada, T. Sannomiya, F. Hosokawa, T. Nakamichi, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, K. Takayanagi
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Journal Title
Ultramicroscopy 108
Pages: 1467-1475
Peer Reviewed
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