Nanoscope for Absolute Work Function Imaging

2009 Fiscal Year Self-evaluation Report

• Project/Area Number: 19201022
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Section: 一般
• Research Field: Nanomaterials/Nanobioscience
• Research Institution: Osaka Electro-Communication University
• Principal Investigator: KOSHIKAWA Takanori Osaka Electro-Communication University, 工学部, 教授 (60098085)
• Project Period (FY): 2007 – 2010
• Keywords: ナノ計測 / ナノ表面界面

Research Abstract

仕事関数は古くから測定が行われてきた古典的な物理量であり、表面からの電子の放出を左右する基礎的な物理量であるために多くの研究者により測定が行われてきた。しかし,同じ物質でかつ同じ指数の表面でも測定により得られる仕事関数の値には大きなばらつきがある。その理由はいろいろと考えられる。まず測定者が作った表面が同じでない(つまり表面の汚染状態が同じでない)こと、測定を行うときに参照する試料の仕事関数の値が正確には決まっていない等が挙げられる。そこで本研究では、参照試料を必要としない「絶対仕事関数」を高分解能で得ることが出来る新しい高分解能「顕微鏡」の開発を行うことを目的としている。
測定の原理はいたって簡単であり、光電効果により光電子放出が起こる閾値のマッピングを行うものである。マッピングは光電子顕微鏡(PEEM)により行う。分光した単色の紫外線を励起源として、紫外線のエネルギー(波長)を変化させることにより空間分解された仕事関数が測定できる「絶対仕事関数ナノスコープ」が可能である。

Research Products

• [Journal Article] Design of a Mirror Aberration Corrector and a Beam Separator for LEEM (2009)
  • Author(s): K. Tsuno, T. Yasue, T. Koshikawa
  • Journal Title: Appl.Surf.Sci. 256 Pages: 1035-1041
• [Presentation] PEEM Intensity on Surface Structure of Cu/W(110) (2008)
  • Author(s): H. Shimizu, M. Hashimoto, A. Nakaguchi, T. Yasue, E. Bauer, T. Koshikawa
  • Organizer: 5th Int. Symp. on Surf Sci. Nanotechnology
  • Place of Presentation: Tokyo
  • Year and Date: 20081100
• [Presentation] Development of Absolute Work Function Microscope (2008)
  • Author(s): T. Koshikawa, T. Yasue
  • Organizer: 4th Vac. Surf. Sci. Conf. of Asia and Australia
  • Place of Presentation: Matsue
  • Year and Date: 20081000
• [Presentation] Contrast Mechanism in PEEM on Cu/W(110) (2008)
  • Author(s): H. Shimizu, M. Hashimoto, A. Nakaguchi, T. Yasue, E. Bauer, T. Koshikawa
  • Organizer: 4th Vac. Surf. Sci. Conf of Asia and Australia
  • Place of Presentation: Matsue
  • Year and Date: 20081000
• [Remarks]
  • URL: http://www.osakac.ac.jp/labs/kosikawa/
• [Remarks] 本研究の成果を含む国際会議での招待講演
• [Remarks] T. Koshikawa, The Development and Future of the Emission Microscope (基調講演), ICXOM 2007 (Kyoto, 2007. 9)
• [Remarks] T. Koshikawa, Past, Present and Future of LEEM/PEEM (基調講演), ALC'07 (Kanazawa, 2007. 10)
• [Remarks] T. Koshikawa, Dynamic Observation on Surfaces and New Development on LEEM/PEEM Instrumentation. ACSIN9 (Tokyo, 2007. 11)
• [Remarks] T. Koshikawa, LEEM/PEEM of Ultrathin Films, 2008 MRS Spring Meeting (San Francisco, 2008. 3)
• [Remarks] T. Koshikawa, Dynamic Observation and High Resolution Element Mapping Study with LEEM and SR-XPEEM, APMC-9 (Jeju, 2008. 11)
• [Remarks] T. Koshikawa, Dynamic Observation of Surfaces and New Development on LEEM/PEEM, PSI 2009 (Puri, 2009. 2)
• [Remarks] T. Koshikawa, Surface and Interface analysis with MEIS and LEEM/PEEM, HRDP-5 (Kyoto, 2009. 11)
• [Remarks] T. Koshikawa, Surface study with MEIS and LEEM/PEEM, IISC-18 (Gatlinburg, 2010. 9)