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2007 Fiscal Year Annual Research Report

プラズマ表面相互作用における光・ラジカル・電子照射素過程とそのシナジー効果の解明

Research Project

Project/Area Number 19204056
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

浜口 智志  Osaka University, 大学院・工学研究科, 教授 (60301826)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 吉村 智  大阪大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (40294029)
北野 勝久  大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教 (20379118)
鹿田 真一  独立行政法人産業技術総合研究所, ダイヤモンド研究センター, 副センター長 (00415689)
山田 英明  独立行政法人産業技術総合研究所, ダイヤモンド研究センター, 研究員 (90443233)
Keywordsプラズマ / 光物性 / 分子動力学 / 反応性ラジカル / プラズマCVD / プラズマエッチング
Research Abstract

プラズマエッチングやプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition:化学蒸着)プロセスにおいて、高い運動エネルギーを持って物質表面に入射するイオンは、プラズマから同時に照射される光・ラジカル・電子の影響により、表面物質と極めて複雑な非平衡化学反応を、物質表面から数ナノメートルの深さの層(表面ナノ反応層)に誘起する。本研究では、数値シミュレーションと精密に制御された多種ビーム同時照射実験を用いてプラズマを「模擬」することにより、プラズマプロセスにおける、それぞれの入射種と物質との相互作用を明らかにするとともに、そのシナジー効果(反応素過程の重ね合わせが成り立たない非線形効果、即ち、反応の相乗効果)を明らかにして、高度に制御可能な新しいプラズマプロセスの構築を目指す。平成19年度は、新たに設置した質量分離イオンビーム・ラジカルビーム照射装置および既設の質量分離イオンビーム照射装置を用いることによって、Si02やPMMA等のエッチングにおけるイオン・紫外光同時照射による相乗効果の実験を行った。これらの実験により、たとえば、Si02のCF3イオンビーム入射エッチングのイールドが紫外光の同時照射によって下がること、また、逆にPMMAのスパッタリングイールドがCF3イオンビーム・紫外光同時照射によって、イオンビーム単独照射のときにくらべて上がることが確認された。また、MgOなどのイオン性結晶への質量分離低エネルギーイオン入射、および、表面帯電の影響を下げるために、イオン・電子同時入射などの実験をおこない、低エネルギー領域におけるスパッタイールドデータベースを構築した。

  • Research Products

    (4 results)

All 2008 2007

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (1 results)

  • [Journal Article] 光照射を重畳したCF_3イオンビームによるSiO_2エッチング率の測2008

    • Author(s)
      幾世和将, 吉村智, 滝澤敏史, 唐橋一浩, 木内 正人, 浜口智志
    • Journal Title

      真空 (印刷中)

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] 低エネルギー質量分離イオンビーム照射装置を用いたSiO_2/Si基板へのインジウムイオン注入2008

    • Author(s)
      日根清裕, 吉村智, 唐橋一浩, 木内正人, 浜口智志
    • Journal Title

      真空 (印刷中)

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Measurement of Magnesium Oxide Sputtering Yields by He and Ar Ions with a Low-Energy Mass-Selected Ion Beam System2007

    • Author(s)
      K. Hine, S. Yoshimura, K. Ikuse, M. Kiuchi, J. Hashimoto, M. T Terauchi, M. Nishitani, S. Hamaguchi
    • Journal Title

      Jpn. J. Applied Phys. 46

      Pages: L1132-L1134

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 低エネルギー領域における酸化マグネシウム薄膜のスパッタ率測定2007

    • Author(s)
      日根清裕, 吉村智, 幾世和将, 木内正人, 橋本潤, 寺内正治, 西谷幹彦, 浜口智志
    • Organizer
      第2回アトミック/ポリスケールテクノロジー連携研究会
    • Place of Presentation
      東京理科大学長万部キャンパス
    • Year and Date
      2007-08-24

URL: 

Published: 2010-02-04   Modified: 2014-11-17  

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