2007 Fiscal Year Annual Research Report
MDC・SHG測定を用いたフレキシブルな界面分子膜の誘電物性評価と量子的形状制御
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19206034
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
岩本 光正 Tokyo Institute of Technology, 大学院・理工学研究科, 教授 (40143664)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
間中 孝彰 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教 (20323800)
野口 裕 千葉大学, 先進科学研究教育センター, 助教 (20399538)
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| Keywords | マックスウェル変位電流 / 柔構造有機分子膜 / 光第2次高調波発生 / 有機デバイス / キラリティー / 単分子膜ドメイン / キャリア伝導 |
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| Research Abstract |
本研究の目的は、柔構造有機分子膜を総合的に取り上げ、「界面のフレキシブル性と界面電気現象との関係」、「界面の電子構造と量子的なドメイン形状の制御」、「有機FET構造を用いた柔構造分子膜素子の伝導特性評価と有機量子形状効果素子の試作・特性評価」という研究を実施することである。本年度は特に「水面上単分子膜のドメイン可視化システム構築と量子的なドメイン形状制御」および、「顕微SHGによる有機FET構造体チャネルポテンシャルの評価と電導特性評価」に焦点を絞り研究を進めた。水面上単分子膜に関する研究では、キラル棒状分子(DPPC)からなる単分子膜が、分子のキラリティーに依存したドメイン形状を形成することを実験的に確かめ、ドメインから発生する電気四重極子密度がそのドメイン形状のキラル依存性に重要な役割を果たすことを理論的に示した。また、Brewster角反射光測定法(BAM)の偏光測定を可能にし、これをSHG及びMDC測定装置と組み合わせることで、膜構造を総合的に評価できるシステムが構築できた。一方、有機FETに関する研究では、デバイス中の電界分布を顕微SHG法によって測定するシステムを構築し、OFF時を含めた定常動作時のさまざまな状態における電界分布評価を行った。また、このシステムを時間分解計測が可能となるように拡張し、デバイス中をキャリアが流れる様子を直接観測することに成功した。さらには、この測定を利用して電極界面での接触抵抗などが計測できることを明らかにした。
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