2008 Fiscal Year Annual Research Report
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19300057
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
清水 雅夫 Tokyo Institute of Technology, 大学院・理工学研究科, 助教 (70361798)
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| Keywords | ステレオビジョン / 距離計測 / 透明板 / 2重像 / 対応位置探索 / 自己相関関数 / レクティフィケーション / リアルタイム |
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| Research Abstract |
平成20年度の研究目標「不連続な距離部分の距離計測」に対して、次のような研究成果を得た。
・2重像における注目領域の周波数領域における特徴には、注目領域内に含まれる複数の視差(2重像間変位)に対応する特徴が含まれる性質を利用する。この性質を用いて、周波数領域での2重像間変位の検出が可能になった。この手法によって、領域べースの対応位置検出を用いるステレオ距離計測における問題点であった「距離が不連続な部分における計測の不正確さ」を克服できた。
・リフレクションステレオでは通常のステレオ画像処理と異なり、1台のカメラで撮影する2重像を扱う。このため、計測対象のテクスチャなどが画像(2重像)から直接得られない点が問題となっていた。そこで、リフレクションステレオで撮影した2重像を通常の画像に復元する手法を開発した。
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