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2008 Fiscal Year Annual Research Report

電子線トモグラフィによる実用材料の立体ナノ構造解析

Research Project

Project/Area Number 19360317
Research InstitutionKyushu University

Principal Investigator

金子 賢治  Kyushu University, 大学院・工学研究院, 准教授 (30336002)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 堀田 善治  九州大学, 大学院・工学研究院, 教授 (20173643)
中島 邦彦  九州大学, 大学院・工学研究院, 教授 (10207764)
齊藤 敬高  九州大学, 大学院・工学研究院, 講師 (80432855)
Keywords電子顕微鏡 / 3次元電子線トモグラフィ / ナノセラミックス複合材料 / アルミニウム合金 / 走査型透過電子顕微鏡-高角環状暗視野法
Research Abstract

電子線トモグラフィ法は、透過型電子顕微鏡を用いナノスケールで3次元形態を観察する手法である。本研究では、電子線トモグラフィ法をアルミニウム合金やセラミックスなど実用材料に応用し、ナノスケールでの3次元形態の解析と、マクロな機械・物理特性やその形成メカニズムを解明することを目的としている。平成20年度の主な成果は、以下の通りである。
1.アークプラズマ法を用いたTiN-Ag複合材料粉末の形態同定と形成について、微小電子プローブを用いたナノ構造解析法として注目を集めている走査透過電子顕微鏡法(STEM)と電子線トモグラフィ法を併用することにより解明することができ、口頭発表並びに論文発表を行った[Kitawaki他Micron, Vol.40(2009)pp.308-312]。
2.合金中におけるひずみの影響の3次元評価にさきがけ、 Al粉末とMg粉末から強ひずみ加工法を用いることによりAl-Mg合金を生成することに成功し、このAl-Mg合金中にMgが過飽和固溶することをXRDならびに透過型電子顕微鏡により解明し、並びに論文発表を行った[Kaneko他,Material Transactions,Vol.50, No.1(2009)pp.76-81]。
3.ケンブリッジ大学のP.A.Midgley教授と共同研究を行い、上記2件の研究成果のみならず、Si中の転位の3次元可視化に成功し、並びに論文発表を行った[Sharp他J. Phys.: Conf. Ser.126(2008)012013]。

  • Research Products

    (4 results)

All 2009 2008

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (1 results)

  • [Journal Article] Fabrication and Characterization of TiN-Ag Nano-Dice2009

    • Author(s)
      K. Kitawaki, K. Kaneko, K. Inoke, J. C. Hernandez, P. A. Midgley, H. Okuyama, M. Uda, Y. Sakka
    • Journal Title

      Micron 4

      Pages: 308-312

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Fabrication and characterization of supersaturated Al-Mg alloys by severe plastic deformation and their mechanical properties2009

    • Author(s)
      K. Kaneko, T. Hata, T. Tokunaga, Z. Horita
    • Journal Title

      Material Transactions 50

      Pages: 76-81

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Dislocation tomography made easy : a reconstruction from ADF STEM images obtained using automated image shift correction2008

    • Author(s)
      J. H. Sharp, J. S. Barnard, K. Kaneko, K. Higashida, P. A. Midgley
    • Journal Title

      J. Phys. : Conf. Ser. 126

      Pages: 012013

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Fabrication and Characterization of TiN-Ag Nano-Dice2008

    • Author(s)
      K. Kitawaki, K. Kaneko, K. Inoke, J. C. Hernandez, P. A. Midgley, H. Okuyama, M. Uda, Y. Salska
    • Organizer
      9th Asia-Pacific Microscopy Conference
    • Place of Presentation
      韓国・済州島
    • Year and Date
      2008-11-06

URL: 

Published: 2010-06-11   Modified: 2016-04-21  

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