2008 Fiscal Year Annual Research Report
高速VLSIのクロストーク故障に対する高信頼テスト手法に関する研究
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19500045
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| Research Institution | Ehime University |
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Principal Investigator |
樋上 喜信 Ehime University, 理工学研究科, 准教授 (40304654)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
高橋 寛 愛媛大学, 理工学研究科, 准教授 (80226878)
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| Keywords | 高信頼化 / 論理回路 / VLSIのテスト / シミュレーション / クロストーク故障 / 故障モデル |
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| Research Abstract |
2008年度は,高速VLSIで問題となる遅延故障を対象にテストパターン生成法を開発し実装を行った.遅延故障を検出するためには,2パターンを連続して印加する必要があり,ここでは,組合せ回路に対して通常のスキャンテスト環境,およびローチオンキャンプチャテスト環境についての手法を提案した.ローンチオンキャプチャテストとは,通常のスキャン回路において,1パターン目で印加したテストパターンの出力をフリップフロップに取り込みその値を2パターン目のパターンとして印加する手法である,スキャンテスト環境においては,縮退故障を対象に生成したテストパターンを利用して,それらを再構成することで高速に遅延故障に対するテストパターンを生成した.また,遅延故障の検出条件を考察し,検出不可能な縮退故障の情報から,検出不可能な遷移故障の識別を行った.
ローチオンキャプチャテスト環境でのテストパターン生成では,その動作を模擬するために組合せ回路部分を2倍に拡張しフリップフロップを介して接続した,2時刻展開回路を用いた.これによって,組合せ回路用故障シミュレータやテストパターン生成ツールを利用することが可能になり,高速にテストパターン生成ができた.
国際会議で提案されたベンチマーク回路に対して提案法を用いて実験を行った.実験の結果スキャンテスト環境では,ほとんどの回路において100%故障検出効率を達成した.またローチオンキャプチャテスト環境では,すべての回路において100%故障検出効率を達成した.
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