2008 Fiscal Year Annual Research Report
超高解像度光干渉断層計の開発、評価と眼底疾患への応用
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19500416
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| Research Institution | Nagoya University |
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Principal Investigator |
伊藤 逸毅 Nagoya University, 大学院・医学系研究科, 特任准教授 (10313991)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
寺崎 浩子 名古屋大学, 大学院・医学系研究科, 教授 (40207478)
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| Keywords | 光干渉断層計 / 超高解像度光干渉断層計 |
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| Research Abstract |
光干渉断層計は組織の断層像を非侵襲的に撮影することのできる検査機器である。近年、その解像度向上により撮影により得られる情報量および検査の有用性はますます増してきており、それにつれてマーケットも大きくなった結果、その開発競争はますます激しくなってきている。そのような中、世界的にもごく少数のグループのみにて開発されていた超高解像度光干渉断層計といわれるような超高分解能をもつ光干渉断層計の開発を本邦においても行い、その実際への応用することを目的として研究を行った。
平成20年度においても、連携研究者の西澤により開発された830nm帯における広帯域で極めて優れた特性を持った光源を用いて、超高解像度光干渉断層計の開発を続けた。その結果、まずは超高解像度光干渉断層計の光学ベンチ上での試作機が作成された。この試作機によりin vitroで豚眼を使った実験が行われ、深さ方向分解能2.2umの超高解像度で角膜、網膜の断層像を撮影することができた。次に、走査レーザー検眼鏡に光干渉断層計を組み込んだシステムに、本システムを応用してプロトタイプの超高解像度光干渉断層計を試作した。この試作機によりin vivoでの角膜、網膜の超高解像度の断層像を撮影することができた。
この試作により、連携研究者の西澤により開発された広帯域・高強度・ガウス型・低雑音という極めて優れた特性を持った光源を用いることにより、現行の光干渉断層計の解像度を大きく超える超高解像度光干渉断層計がこれまでの超高解像度光干渉断層計よりも大幅に安価に作成可能であることが示され、これからの更なる開発の足がかりを得ることができた。
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