2008 Fiscal Year Annual Research Report
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19510059
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| Research Institution | Tokai University |
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Principal Investigator |
伊藤 敦 Tokai University, 工学部, 教授 (80193473)
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| Keywords | 高LET放射線 / 間接作用 / 酸化損傷 / 酸素効果 / トラック構造 / 8-oxoG / 8-OHdG / 蛍光抗体法 |
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| Research Abstract |
高LET放射線の生物作用は、一般に直接作用が主であると考えられている。しかしながら、申請者らの研究も含めて数百keV/μmという高LET領域でも細胞死に対する間接作用の寄与は50%を超えるという報告もなされている。このような背景から、高LET放射線の作用を理解し放射線治療に応用するには、間接作用、言い換えるとラジカル損傷の評価を行うことが重要と考えた。昨年度は、その生成に間接作用の主原因であるOHラジカルと酸素が関与するDNA酸化損傷、8ヒドロキシデオキシグアノシン(8-OHdG)を指標に、HPLCによって生成のLET及び粒子種依存性を検討した。今年度は、さらに8-OHdGの分布を求め、間接作用の領域の広がりを可視化することを計画した。可視化には8-OHdG抗体を用いた免疫染色法を用いた。平成19年度終わりにX線によって誘発される8-OHdGの可視化について25Gyまで成功したが、本年度は、それを進めて重粒子線に適用し、さらにより低線量で検出を可能とする条件検討を行った。結果として、炭素線(LETは13keV/μm)及び鉄線(LETは440はkeV/μm)において、線量が6Gyにおいても8-OHdGが有意に細胞核に集積する分布が得られた。今後さらに細胞核に数個の粒子が透過するような低線量(現在の1/10程度)で検出できるように免疫染色法をさらに改善すること、同-LETで異なった粒子種を用いて間接作用の領域の粒子種による違いを明らかにすることが課題である。
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Research Products
(5 results)
