2008 Fiscal Year Annual Research Report
拡張隣接グラフとニューラルネットを応用したバイオメトリック情報からの特徴抽出
| Project/Area Number |
19560403
|
|---|
| Research Institution | Tokyo National College of Technology |
|---|
Principal Investigator |
大塚 友彦 Tokyo National College of Technology, 電子工学科, 教授 (80262278)
|
|---|
| Keywords | 候補点解析法 / 指紋特異点 / コア / デルタ / 劣化指紋画像 / ポアンカレ法 / 大局的情報 / 局所的情報 |
|---|
| Research Abstract |
本研究では、前年度に提案手法(候補点解析法による指紋特異点検出手法)を提案した。今年度は、さらに、これまで課題であった劣化指紋画像からの指紋特異点検出手法の検出精度向上を実現するため、前年度に提案した手法を改善し、指紋隆線の大局的情報と局所的情報の両者を併用した候補点解析法を提案した。
本研究で提案する大局的な隆線分布情報と局所的な隆線分布情報を組み合わせる指紋特徴点抽出手法は、他に例がなく、検出精度は、従来法で最も良く用いられるポアンカレ法よりもコア検出、デルタ検出ともに優れたものとなっている。また、処理時間についても、従来法のポアンカレ法に比べ、10〜20%程度の処理時間増に留まるという結果となっている。
なお、本成果報告については、米国アラスカ州アンカレッジで開催された国際会議(IEEE CVPR Workshop on Biometrics 2008)において発表し、公表と同時に広く専門家の意見収集も行った。
しかし、画質劣化が激しい場合、未だ特異点検出に成功しない事例も存在するため、今後は、候補点解析法による指紋特異点手法の問題点を分析し、さらに検出精度を向上させる工夫が必用と言える。
|
Research Products
(2 results)
