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2008 Fiscal Year Annual Research Report

複素数離散ウェーブレット変換による革新的金属めっき表面欠陥検出手法の開発

Research Project

Project/Area Number 19560423
Research InstitutionToyohashi University of Technology

Principal Investigator

章 忠  Toyohashi University of Technology, 工学部, 教授 (50254579)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 三宅 哲夫  豊橋技術科学大学, 工学部, 准教授 (60239366)
今村 孝  豊橋技術科学大学, 工学部, 助教 (10422809)
Keywords完全シフト不変ウェーブレット / 表面検査 / 画像処理 / 鏡面反射モデル / 金属めっき / リアルタイム計測
Research Abstract

本年度は,前年度成果である(1)完全シフト不変なウェーブレット設計法の開発および(2)金属めっき表面欠陥計測システムの構築を行った結果をもとに,(3)表面欠陥検出プログラムの構成,(4)提案する欠陥検出手法の妥当性の検証を行った.
(3)のプログラムとしては,前年度導入した計測システムの制御部,同システムでの撮影部,欠陥検出処理部に分けて開発を行った.制御部では,システムの構造上,光源とカメラの位置を制御する軸が機構的に干渉する問題があったため,幾何学解析にもとづき干渉を回避する位置制御プログラムを構築した.撮影部においては,導入したカメラのパラメータ調整とシャッター制御を行うものとした.これらを連動させて,検査対象の任意の角度から解析用画像を取得するシステムとした.欠陥検出部においては,アルゴリズム検証用と実装用の2つのプログラムを作成し,検査精度と処理高速化を試みた.その結果,(1)のアルゴリズムを導入することにより,解析処理時間の短縮化を達成した.検査精度については,その精度に関わる検査解析時の鏡面反射光削除用の画像枚数が,検査対象形状により著しく変化することが明らかとなった.
そこで,(4)の妥当性検証を兼ねて,平面,半球,三角錐等の複数形状に対して,実製品同様のメッキ処理を施したサンプルを用意し,これらの形状に対する画像取得と,各形状の鏡面反射モデルの構築を進めた.鏡面反射モデルのパラメータと対象形状の関連性については,継続して検討中であるが,平面形状に関しては,従来研究同様の精度下で解析処理時間の短縮を実現した.

  • Research Products

    (6 results)

All 2008 Other

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (2 results) Remarks (1 results) Patent(Industrial Property Rights) (1 results)

  • [Journal Article] 完全シフト不変性を実現する複素数離散ウェーブレッド変換2008

    • Author(s)
      戸田浩, 章忠
    • Journal Title

      Journal of Signal Processing「信号処理」 Vol. 12, No. 3

      Pages: 155-166

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Processing Refleetions on Metallic Surfaces Using a Special Random Sampling Method2008

    • Author(s)
      Z. Zhang, S. Q. Ren, T. Miyake, H. Fujiwara, T. Imamura
    • Journal Title

      International Journal of Innovat ive Comput ing, Information and Control Vol. 4, No. 7

      Pages: 1595-1606

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] VARIABLE-DENSITY COMPLEX DISCRETE WAVELET TRANSFORM BASED ON PERFECT TRANSLATION INVARIANCE2008

    • Author(s)
      Hiroshi Toda. Zhong Zhang
    • Organizer
      the 2008 International Conference on Wavelet Analysis and Pattern Recognition
    • Place of Presentation
      Hong Kong, China
    • Year and Date
      2008-08-30
  • [Presentation] Inspection of Smooth Metallic Surface Using Complex Discrete Wavelet Transform2008

    • Author(s)
      S. Q. Ren. Z. Zhang, T. Miyake, H. Fuj iwara, T. Imamura
    • Organizer
      International Conference on Innovative Coupiiting, Information and Control 2008
    • Place of Presentation
      Dalian, China
    • Year and Date
      2008-06-17
  • [Remarks]

    • URL

      http://is.pse.tut.ac.jp/

  • [Patent(Industrial Property Rights)] 信号検出装置, 信号検出方法及び信号検出装置の製造法2008

    • Inventor(s)
      章 忠
    • Industrial Property Rights Holder
      豊橋技術科学大学
    • Industrial Property Number
      特願2008-262688
    • Filing Date
      2008-10-09

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Published: 2010-06-11   Modified: 2016-04-21  

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