テスト支援回路の故障影響度解析と耐故障設計に関する研究

2007 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 19700044
• Research Institution: Hiroshima City University
• Principal Investigator: 市原 英行 Hiroshima City University, 情報科学研究科, 准教授 (50326427)
• Keywords: ディペンダプルコンピューティング / VLSIテスト / 組込自己テスト / 耐故障設計 / 歩留まり / モデル化 / 設計工学 / アルゴリズム

Research Abstract

本年度はテスト支援回路の耐故障設計を行うために,1)組込自己テスト(BIST)手法の解析および耐故障設計手法の提案,2)テスト圧縮・展開手法の解析を行うことが研究計画であった.1)のBIST手法手法に関しては.論文調査を行い,本手法と関連が深いと思われる手法をピツクアップし,その中でも効果の高いと思われる故障検出機能付きテスト生成器(EBIST)に関するに着目した.この手法はBIST回路のテスト発生回路に故障が発生したとしても,その故障を簡単な検出器により発見できる手法であり,十分に本研究に応用できることが考えられる.そこでこの手法を実装し,BIST回路自身の故障耐性と従来のテスト能力の関係について考察を行い,計算機実験によりその具体的な関係を調べた.これにより,具体的なEBIST設計方法とEBISTの有効性を確認できた.この結果は学生の卒業研究としてまとめている.これにより,耐故障BISTを提案するための基本的な準備はほぼ整ったと考えている.2)に関しては論文調査を行ったものの,十分な解析までは進んでいない状態である.これは1)で着目したEBISTという手法を利用することが研究上とても興味深く,また実用的でもあるため,こちらの解析およびこれを用いた耐故障設計手法に研究の重きを置いたためである.当初の計画とは変わっているものの,質の高い成果が得られると判断できた場合は一方の手法に重点を置くことは,最初の研究計画にも示しているとおりである.